Fertigungsprofil Knoten
Hochreines Silizium-Wafer-Substrat
Dokumentierte Fertigungskapazität
Ultrareine Siliziumscheibe als Grundlage für die Halbleiterbauelemente-Fertigung
URN
URN:CNFX:NODE:SEMISHAREPROBER:HIGH_PURITY_SILICON_WAFER_SUBSTRATE
Dokumentierte Fertigungskapazität
Ultrareine Siliziumscheibe als Grundlage für die Halbleiterbauelemente-Fertigung