Fertigungsprofil Knoten

Probe Card

Dokumentierte Fertigungskapazität

Eine Schnittstellenkomponente in der Wafer-Testung, die elektrische Verbindungen zwischen Testgeräten und Halbleiter-Wafer-Chips herstellt.

URN URN:CNFX:NODE:VENTURE-ELECTRONICS:PROBE_CARD
Venture Electronics
· CN
Kapazitäts-TypDokumentierte Fähigkeit
Status● Dokumentiert
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