Fertigungsprofil Knoten
Probe Card
Dokumentierte Fertigungskapazität
Eine Schnittstellenkomponente in der Wafer-Testung, die elektrische Verbindungen zwischen Testgeräten und Halbleiter-Wafer-Chips herstellt.
URN
URN:CNFX:NODE:NIDEC-SV-PROBE:PROBE_CARD