Strukturierte Komponentendaten · 2026

Strukturiertes Substrat

Präzisionsgefertigte Scheibe oder Streifenkomponente mit optisch erkennbaren Mustern (typischerweise abwechselnd reflektierend/nicht reflektierend oder transparent/opak), die in Drehgebern verwendet wird, um mechanische Drehung durch optische Abtastung in digitale Positionssignale umzuwandeln.

Technische Definition und Einsatzkontext
Ein typisches Strukturiertes Substrat wird in Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen nach Material, Toleranz, Montage- und Anwendungskompatibilität sowie Ausfallrisiko bewertet.

Ein präzisionsgefertigtes Scheiben- oder Streifenbauteil mit optisch erkennbaren Mustern (typischerweise abwechselnd reflektierende/nicht reflektierende oder transparente/opake Bereiche), das in Drehgebern verwendet wird, um mechanische Drehung durch optische Abtastung in digitale Positionssignale umzuwandeln. Funktioniert nach dem Prinzip der optischen Unterbrechung/Detektion, bei dem Licht von einem Emitter durch die strukturierten Bereiche hindurchtritt oder von ihnen reflektiert wird und auf einen Fotodetektor trifft, der elektrische Impulse erzeugt, die der Drehbewegung und -position entsprechen.

Komponentenspezifikationen

Definition
Ein präzisionsgefertigtes Scheiben- oder Streifenbauteil mit optisch erkennbaren Mustern (typischerweise abwechselnd reflektierende/nicht reflektierende oder transparente/opake Bereiche), das in Drehgebern verwendet wird, um mechanische Drehung durch optische Abtastung in digitale Positionssignale umzuwandeln.

Funktioniert nach dem Prinzip der optischen Unterbrechung/Detektion, bei dem Licht von einem Emitter durch die strukturierten Bereiche hindurchtritt oder von ihnen reflektiert wird und auf einen Fotodetektor trifft, der elektrische Impulse erzeugt, die der Drehbewegung und -position entsprechen.
Funktionsprinzip
Works on optical interruption/detection principle where light from an emitter passes through or reflects off patterned areas to a photodetector, generating electrical pulses corresponding to rotational movement and position.
Materialien
Glas (Bor Silikat oder Quarz) mit Chrom- oder Aluminiumbeschichtungenoder technische Polymere (Polycarbonat/PMMA) mit aufgebrachten Metallmusternoptionale Antireflexbeschichtungen.
Maßtoleranz
±1 arc-second to ±5 arc-minutes
Nenndurchmesser
20-200mm
Flatness
<5μm
Wandstärke
0.5-3mm
Oberflächenrauheit Ra
Ra<0.1μm
Pattern Resolution
100-10,000 lines/revolution
Betriebstemperatur
-40°C to +85°C
Normen
ISO 16063DIN 53019IEC 60068

Branchentaxonomie & Aliasse

Gebräuchliche Handelsnamen, technische Kennungen und Suchbegriffe für Strukturiertes Substrat.

Übergeordnete Produkte

Diese Komponente wird in den folgenden Industrieprodukten eingesetzt.

FMEA · Fehleranalyse

Ursache → Fehlermodus → Engineering-Massnahme

Mechanical abrasion from contact->Pattern degradation causing signal loss or errors->Use non-contact optical sensing, protective coatings, and proper clearance design
Thermal cycling stress->Substrate warping or pattern detachment->Select materials with matched thermal expansion coefficients and stable adhesives
Improper cleaning procedures->Surface scratches or chemical damage->Follow manufacturer cleaning guidelines using approved solvents and lint-free wipes

Industrielles Ökosystem und technische Bewertung

0
Pattern wear/damage
1
Contamination accumulation
2
Thermal expansion mismatch
3
Mounting misalignment
4
Electrostatic discharge damage during handling

Konformität und Prüfung

tolerance
Pattern position tolerance ±0.5μm, angular accuracy ±3 arc-seconds for high-grade models
test method
Optical comparator inspection, laser interferometry for angular accuracy, environmental testing per IEC 60068 standards

Hersteller für diese Komponente

Relevante Herstellerprofile aus der CNFX-Komponentenfähigkeitstabelle.

Die Herstellerliste dient der Vorrecherche und Einordnung von Fertigungskapazitäten. Sie ist keine Zertifizierung, kein Ranking und keine Transaktionsgarantie.

Beispielhafte Bewertungskriterien aus Einkaufsprozessen

Keine Kundenbewertung und keine Echtzeitdaten. Die Werte zeigen typische Prüfkriterien in RFQ- und Lieferantenbewertungsprozessen.

Technische Dokumentation
4/5
Fertigungsfähigkeit
4/5
Prüfbarkeit
5/5
Lieferantentransparenz
3/5

Die Kriterien dienen als Orientierung für technische Einkaufsprüfungen. Konkrete Kunden, Länder, Bewertungsdaten oder Live-Nachfragen werden nur angezeigt, wenn entsprechende belastbare Daten vorliegen.

Verwandte Komponenten

Häufige Fragen

What determines the resolution of a patterned substrate?

Resolution is determined by the number of pattern lines per revolution and the optical system's ability to detect transitions, with higher line counts enabling finer angular measurement.

Can patterned substrates be customized for specific applications?

Yes, patterns can be customized for unique resolutions, diameters, reference marks, or multi-track configurations for absolute position encoding.

How does environmental contamination affect performance?

Dust or oil on the surface can scatter light, causing signal degradation; sealed encoders or regular cleaning maintenance is recommended for harsh environments.

Kann ich Hersteller direkt kontaktieren?

CNFX ist ein offenes Verzeichnis, keine Handelsplattform und kein Beschaffungsagent. Herstellerprofile und Formulare helfen bei der Vorbereitung des direkten Kontakts.

CNFX Industrial Component Index · Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen

Datenbasis

CNFX-Herstellerprofile, technische Klassifikation, öffentlich verfügbare Produktinformationen und fortlaufende Plausibilitätsprüfung.

Vorläufige technische Einordnung
Diese Seite dient der strukturierten Vorbereitung von Recherche, RFQ und Lieferantenbewertung. Sie ersetzt keine Lieferantenqualifizierung, keine Normenprüfung und keine technische Freigabe durch den Käufer.

Beschaffungsinformationen anfragen für Strukturiertes Substrat

Informationen zu Einsatzbereich, Spezifikationsgrenzen, Lieferantentypen und RFQ-Vorbereitung anfragen.

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URN:CNFX:ME:UNIT:PATTERNED_SUBSTRATE