Strukturierte Fertigungsdaten · 2026

Halbleiter-Testplatine

Auf Basis strukturierter CNFX-Herstellerprofile wird Halbleiter-Testplatine im Bereich Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen anhand von Platinengröße bis Lagenzahl eingeordnet.

Technische Definition und Kernbaugruppe

Ein typisches Halbleiter-Testplatine wird durch die Baugruppe aus Pogo-Türme und Leitungsimpedanzkontrollierte Leiterbahnen beschrieben. Für industrielle Anwendungen werden Materialauswahl, Fertigungsprozess und Prüfbarkeit gemeinsam bewertet.

Präzisions-Interface-Leiterplatte wie eine Lastplatine oder Probenkarte, die automatische Testgeräte mit Halbleiterbauelementen während des Wafer- und Endtests verbindet.

Produktspezifikationen

Technische Details und Fertigungskontext für Halbleiter-Testplatine

Technische Definition

Halbleiter-Testplatinen bilden die elektrische Brücke zwischen automatischen Testgeräten (ATE) und dem zu testenden Bauelement. Lastplatinen tragen gehäuste Bauelemente in Sockeln für den Endtest; Probenkarten kontaktieren Wafer-Pads über Nadel- oder MEMS-Sonden während des Wafer-Sortierens; Burn-in-Platinen halten Bauelemente unter Stressbedingungen. Diese gehören zu den anspruchsvollsten Leiterplatten: hohe Lagenzahlen, enge Impedanzkontrolle bis zu mehreren GHz, exotische verlustarme Laminate, Blind- und Buried Vias sowie Back-Drilling. Kleine Stückzahlen, extreme Spezifikationen und schnelle Durchlaufzeiten definieren das Geschäft. Typische Plattengrößen reichen von 300 bis 500 mm, mit Lagenzahlen von 4 bis 32. Minimale Leiterbahnbreite/-abstand beträgt 0,05 bis 0,1 mm gemäß IPC-2221. Impedanztoleranz beträgt ±5% gemäß IPC-2141. Maximale Testfrequenz ist 1 bis 10 GHz. Betriebstemperaturbereich ist -40 bis 85°C gemäß IEC 60068-2-1/2. Kontaktwiderstand ist ≤50 mΩ gemäß EIA-364-06. Isolationswiderstand ist ≥100 MΩ bei 500 V DC gemäß IPC-2221. Dielektrische Spannungsfestigkeit ist 500 bis 1000 V DC gemäß IPC-2221. Plattendicke ist 1,6 bis 3,2 mm gemäß IPC-2221. Oberflächenbeschichtungen umfassen ENIG, ENEPIG und OSP gemäß IPC-4552. Basismaterialien umfassen FR-4, Rogers und Polyimid gemäß IPC-4101. Gewicht reicht von 0,5 bis 2,0 kg. Diese Platinen werden gemäß IPC-6012 Klasse 3 und IPC-2221 Designstandards hergestellt und müssen die mechanischen Spezifikationen der Tester-Schnittstelle gemäß der ATE-Plattform erfüllen. Bitte verifizieren Sie modellspezifische Werte und Normen mit dem Hersteller oder Lieferanten.

Funktionsprinzip

Das ATE treibt Stimulus und misst Antwort über Pogo-Türme oder Koaxial-Schnittstellen auf der Tester-Seite der Platine; kontrollierte Impedanz-Leiterbahnen führen jeden Kanal zum Sockel oder zur Sondenanordnung mit abgestimmten Längen, während lokale Entkopplung und Relais Stromversorgung und Schaltkonfigurationen pro Testprogramm konditionieren. Die Platine muss Signalintegrität bis zu 10 GHz aufrechterhalten, mit Impedanztoleranz von ±5%. Kontaktwiderstand muss ≤50 mΩ sein, um genaue Messungen zu gewährleisten. Das Design muss IPC-2221 und IPC-6012 Klasse 3 entsprechen, und mechanische Schnittstellen müssen zur spezifischen ATE-Plattform passen. Verifizierung sollte Impedanzmessung, Durchgangsprüfungen und Isolationswiderstandsmessungen umfassen. Wartungssignale umfassen erhöhten Kontaktwiderstand oder Signalverschlechterung, was auf Verschleiß oder Kontamination hinweist. Fehlergrenzen umfassen dielektrischen Durchschlag, übermäßige Einfügungsdämpfung oder mechanische Verformung.

Hauptmaterialien

Verlustarme Laminate (Megtron-, Rogers-Typen), Hybridaufbauten aus FR-4 mit hoher Lagenzahl, Vergoldete Kontaktflächen, Präzisionssockel und Pogo-Interfaces, Rückgebohrte und gefüllte Durchkontaktierungen
Technische Parameter
ParameterTypischer BereichHinweise & Auswahlkriterien
Platinengröße300–500 mmCustom sizes up to 600 mm available
Lagenzahl4–32 SchichtenHigher layer count for complex routing
Minimale Leiterbahnbreite/ abstand0.05–0.1 mmTighter tolerances for high-density designsIPC-2221
Impedanztoleranz±5 %Critical for high-speed signalsIPC-2141
Maximale Testfrequenz1–10 GHzDepends on material and design
Betriebstemperaturbereich-40–85 °CExtended range for harsh environmentsIEC 60068-2-1/2
Kontaktwiderstand≤50 mΩLower is better for signal integrityEIA-364-06
Isolationswiderstand≥100 MΩAt 500 V DCIPC-2221
Durchschlagspannung500–1000 V DCEnsures no breakdown under testIPC-2221
Platinendicke1.6–3.2 mmThicker for mechanical stabilityIPC-2221
OberflächenbeschichtungENIG, ENEPIG, OSPENIG for flatness and solderabilityIPC-4552
BasismaterialFR-4, Rogers, PolyimideHigh-Tg FR-4 for thermal stabilityIPC-4101
Gewicht0.5–2.0 kgDepends on size and layer count

Die Bereiche sind branchenübliche Richtwerte zur Angebotsvorbereitung und keine Zusage des Lieferanten. Bestätigen Sie jeden Wert und jede Norm vor der Bestellung beim rechtlichen Hersteller.

Komponenten / BOM
  • Pogo-Türme
    Federkontaktschnittstelle zum Tester auf der Leiterplatten-Testerseite.
  • Leitungsimpedanzkontrollierte Leiterbahnen
    Führen Sie jeden Kanal mit abgestimmter Länge und kontrollierter Impedanz.
  • Steckdose
    Hält das verpackte Prüfling beim Endtest.
  • Sondenarray
    Kontaktiert die Die-Pads beim Wafertest.
  • Relais
    Schaltet die Board-Konfiguration gemäß Testprogramm um.

Anwendung und Auswahl

Eignung und Auslegungsdaten

Betriebsgrenzen
speed:DC bis Mehr-GHz-Kanäle mit Back-Drilling
quality:IPC-6012 Klasse 3 mit Coupon-Berichten
materials:FR-4-Hybrid mit verlustarmen Megtron-/Rogers-Lagen
board types:Load Board, Probe-Card-Leiterplatte, Burn-in-Board, Charakterisierungsboard
layer range:20-60+ Lagen

Risiken, Wartung und Normen

Zuverlässigkeits- und Risikoanalyse

Ausfallmodus und Ursache
Fehler durch Kanal-Skew
Ursache: Längenabgleich oder Schwankungen des Dielektrikums verschieben die Laufzeit zwischen gepaarten Kanälen, sodass Hochgeschwindigkeitstests bei Temperatur sporadisch fehlschlagen.
Resonanz durch Via-Stubs
Ursache: Nicht rückgebohrte Stubs an schnellen Kanälen erzeugen Reflexionen, die das Auge bei den Zieldatenraten schließen.

Beschaffungscheckliste

Keine Kundenbewertung und keine Echtzeitdaten. Prüfen Sie diese Unterlagen vor einer Bestellung.

Technische Dokumentation
Aktuelle Zeichnungen, Revisionsstand und Spezifikationsblatt anfordern.
Fertigungsfähigkeit
Anlagen, Prozessgrenzen und nachvollziehbare Fertigungsbelege prüfen.
Prüfbarkeit
Prüfmethoden, Messmittel und rückverfolgbare Prüfberichte bestätigen.
Lieferantentransparenz
Rechtsträger, Standort, Zertifikatsumfang und direkte Kontakte prüfen.

Die Kriterien dienen als Orientierung für technische Einkaufsprüfungen. Konkrete Kunden, Länder, Bewertungsdaten oder Live-Nachfragen werden nur angezeigt, wenn entsprechende belastbare Daten vorliegen.

Hersteller von Halbleiter-Testplatine

4 Unternehmen führen dieses Produkt in ihrem eigenen Sortiment. Die Unternehmensangaben stammen von der jeweils eigenen Website; jede Karte nennt die Grundlage der Zuordnung.

Shenzhen Fastprint Circuit Tech Co., Ltd.
Shenzhen · CN
Gegründet 1993
Fertigt außerdem: IC Substrate、Flexible Printed Circuit (FPC)、Probe Card
Eigenangabe des Unternehmens · Profil von CNFX aus öffentlichen Quellen zusammengestellt
Shenzhen Sunshine Global Circuits Co., Ltd. (SGC)
Shenzhen · CN
Gegründet 2001over 2,500 (incl. subsidiaries) Mitarbeiter
ISO9001:2008ISO/TS16949:2009ISO14001:2004ISO13485:2003+5
Fertigt außerdem: Multilayer PCB、Heavy Copper PCB、Probe Card
Eigenangabe des Unternehmens · Profil von CNFX aus öffentlichen Quellen zusammengestellt
Highleap Electronic
· CN
Fertigt außerdem: Crystal Oscillator、Rf Pcb、Heavy Copper PCB und 9 weitere
Laut Produktseite der eigenen Website · Profil von CNFX aus öffentlichen Quellen zusammengestellt
Bezeichnung auf der Website: “Semiconductor test board”
Quellseite ansehen ↗ hilelectronic.com · geprüft am 2026-09-10
LJPCB
Shenzhen · CN
Fertigt außerdem: Detection IC (Integrated Circuit)、PCB Assembly
Laut Produktseite der eigenen Website · Profil von CNFX aus öffentlichen Quellen zusammengestellt
Bezeichnung auf der Website: “22L Ultra-Thick Semiconductor Test Board”
Quellseite ansehen ↗ ljpcb.com · geprüft am 2026-09-06

Die Herstellerliste dient der Vorrecherche und Einordnung von Fertigungskapazitäten. Sie ist keine Zertifizierung, kein Ranking und keine Transaktionsgarantie.

Anfrage

Beschaffungsinformationen anfragenfür Halbleiter-Testplatine

Informationen zu Einsatzbereich, Spezifikationsgrenzen, Lieferantentypen und RFQ-Vorbereitung anfragen.

Wohin Ihre Anfrage geht
Direkt an die CNFX-Redaktion — und an den Hersteller, sofern dieses Produkt mit einem bestätigten Profil verknüpft ist. Keine Weitergabe an eine Lieferantenliste.
Ihre Daten bleiben hier
Wir verkaufen oder vermieten keine Anfragedaten und nehmen Sie in keinen Verteiler auf. Nutzung ausschließlich zur Beantwortung dieser Anfrage.
Keine Provision, kein Zwischenhändler
CNFX ist ein Verzeichnis. Wir nehmen keinen Anteil an Aufträgen und verhandeln nicht im Namen eines Lieferanten.
Was wir nicht zusichern
Eine Listung ist keine Empfehlung. Prüfen Sie jeden Lieferanten und jeden Wert vor der Bestellung selbst.

Ihre Geschäftsdaten werden nur zur Bearbeitung dieser Anfrage verwendet.

Vielen Dank. Ihre Anfrage wurde gesendet.
Senden fehlgeschlagen. Bitte erneut versuchen oder schreiben Sie uns an [email protected].

Häufige Fragen

Was sind typische Plattengrößen und Lagenzahlen für Halbleiter-Testplatinen?

Laut Verzeichnis liegen Plattengrößen typischerweise zwischen 300 und 500 mm, und Lagenzahlen zwischen 4 und 32. Jedoch sind kundenspezifische Größen bis 600 mm verfügbar. Bestätigen Sie immer die genauen Abmessungen und Lagenzahl mit dem Hersteller für Ihre spezifische Anwendung.

Welche Normen gelten für Halbleiter-Testplatinen?

Häufige Normen umfassen IPC-6012 Klasse 3 für Leistung, IPC-2221 für Design und IPC-2141 für Impedanzkontrolle. Zusätzlich müssen mechanische Spezifikationen zur spezifischen ATE-Plattform passen. Diese Normen dienen als Beschaffungsreferenz; verifizieren Sie die Konformität mit dem Lieferanten.

Welche maximale Testfrequenz können diese Platinen verarbeiten?

Das Verzeichnis listet einen maximalen Testfrequenzbereich von 1 bis 10 GHz, abhängig von Material und Design. Für Hochgeschwindigkeitssignale beträgt die Impedanztoleranz ±5% gemäß IPC-2141. Bestätigen Sie die tatsächliche Frequenzfähigkeit mit dem Hersteller für Ihr spezifisches Design.

Welche Oberflächenbeschichtungen sind verfügbar?

Verfügbare Oberflächenbeschichtungen umfassen ENIG, ENEPIG und OSP gemäß IPC-4552. Die Wahl hängt von Ebenheit und Lötbarkeitsanforderungen ab. Verifizieren Sie die Beschichtung und ihre Konformität mit Ihrem Montageprozess mit dem Lieferanten.

Kann ich Hersteller direkt kontaktieren?

CNFX ist ein offenes Verzeichnis, keine Handelsplattform und kein Beschaffungsagent. Herstellerprofile und Formulare helfen bei der Vorbereitung des direkten Kontakts.

CNFX Industrial Index v2.6.09 · Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen

Taxonomie und Suchbegriffe

Suchbegriffe, Aliase und technische Bezeichnungen für diesen CNFX Datensatz.

Datenbasis

CNFX-Herstellerprofile, technische Klassifikation, öffentlich verfügbare Produktinformationen und fortlaufende Plausibilitätsprüfung.

Vorläufige technische Einordnung
Diese Seite dient der strukturierten Vorbereitung von Recherche, RFQ und Lieferantenbewertung. Sie ersetzt keine Lieferantenqualifizierung, keine Normenprüfung und keine technische Freigabe durch den Käufer.

Fertigung für Halbleiter-Testplatine?

Herstellerprofile mit passender Produkt- und Prozesskompetenz vergleichen.

Vorheriges Produkt
Halbleiter-Testhandler
Nächstes Produkt
Halbleiterbauelement
AngebotChat