Strukturierte Komponentendaten · 2026

Leadframe / Substrat

Ein Leadframe oder Substrat ist eine strukturelle Komponente in der Halbleiterverpackung, die als Schnittstelle zwischen dem integrierten Schaltkreis-Chip und der externen Leiterplatte dient.

Technische Definition und Einsatzkontext
Ein typisches Leadframe / Substrat wird in Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen nach Material, Toleranz, Montage- und Anwendungskompatibilität sowie Ausfallrisiko bewertet.

Ein Leadframe oder Substrat ist eine strukturelle Komponente in der Halbleiterverpackung, die als Schnittstelle zwischen dem integrierten Schaltkreis-Chip und der externen Leiterplatte dient. Es stellt elektrische Pfade durch leitfähige Leiterbahnen bereit, bietet mechanische Unterstützung für den Chip und ermöglicht die Wärmeableitung. Leadframes bestehen typischerweise aus Metalllegierungen und werden in herkömmlichen Gehäusen verwendet, während Substrate oft mehrschichtige organische oder keramische Strukturen sind, die in fortschrittlichen Verpackungstechnologien wie BGA und Flip-Chip eingesetzt werden. Das Leadframe/Substrat funktioniert, indem es eine strukturierte leitfähige Rahmenstruktur bereitstellt, die die Bondpads des Halbleiterchips mit externen Pins oder Bällen verbindet. Elektrische Signale gelangen vom Chip über Drahtbonds oder Lötbumps zu den Leiterbahnen des Leadframes/Substrats, die sie dann zu externen Verbindungen führen. Es dient auch als mechanische Plattform für die Chipmontage und Verkapselung sowie als Wärmepfad für die Wärmeableitung vom aktiven Bauelement.

Komponentenspezifikationen

Definition
Ein Leadframe oder Substrat ist eine strukturelle Komponente in der Halbleiterverpackung, die als Schnittstelle zwischen dem integrierten Schaltkreis-Chip und der externen Leiterplatte dient. Es stellt elektrische Pfade durch leitfähige Leiterbahnen bereit, bietet mechanische Unterstützung für den Chip und ermöglicht die Wärmeableitung. Leadframes bestehen typischerweise aus Metalllegierungen und werden in herkömmlichen Gehäusen verwendet, während Substrate oft mehrschichtige organische oder keramische Strukturen sind, die in fortschrittlichen Verpackungstechnologien wie BGA und Flip-Chip eingesetzt werden.

Das Leadframe/Substrat funktioniert, indem es eine strukturierte leitfähige Rahmenstruktur bereitstellt, die die Bondpads des Halbleiterchips mit externen Pins oder Bällen verbindet. Elektrische Signale gelangen vom Chip über Drahtbonds oder Lötbumps zu den Leiterbahnen des Leadframes/Substrats, die sie dann zu externen Verbindungen führen. Es dient auch als mechanische Plattform für die Chipmontage und Verkapselung sowie als Wärmepfad für die Wärmeableitung vom aktiven Bauelement.
Funktionsprinzip
Der Leadframe/das Substrat funktioniert, indem es einen strukturierten leitfähigen Rahmen bereitstellt, der die Bondpads des Halbleiterchips mit externen Pins oder Balls verbindet. Elektrische Signale gelangen vom Chip über Drahtbonds oder Lötbumps zu den Leiterbahnen des Leadframes/Substrats, die sie dann zu externen Verbindungen führen. Es dient auch als mechanische Plattform für die Chipmontage und Verkapselung sowie als Wärmepfad für die Wärmeableitung vom aktiven Bauelement.
Materialien
Kupferlegierungen (C194C7025)Alloy 42 (Fe-42Ni)Kovar (Fe-Ni-Co)AluminiumKeramik (Al2O3AlN)organische Substrate (FR-4BT-HarzPolyimid)mit Oberflächenveredelungsoptionen wie SilberGoldNickel-Palladium-Gold und Zinn.
CTE
4-18ppm/°C
Pitch
0.3mm to 1.27mm
Wandstärke
0.1mm to 0.25mm
Lead Count
8 to 1000+
Die Pad Size
Custom to die dimensions
Package Size
2mm x 2mm to 50mm x 50mm
Thermal Conductivity
200-400 W/mK for metal, 20-200 W/mK for ceramic
Normen
JEDEC JESD22IPC-6012MIL-PRF-38535

Branchentaxonomie & Aliasse

Gebräuchliche Handelsnamen, technische Kennungen und Suchbegriffe für Leadframe / Substrat.

Übergeordnete Produkte

Diese Komponente wird in den folgenden Industrieprodukten eingesetzt.

FMEA · Fehleranalyse

Ursache → Fehlermodus → Engineering-Massnahme

CTE-Fehlanpassung zwischen Materialien->Rissbildung oder Delamination bei Temperaturwechseln->Materialauswahl mit angepasstem CTE, spannungsabbauende Designs, Underfill-Anwendung
Kontamination der Bondoberflächen->Schlechte Drahtbond- oder Lötverbindungsintegrität->Reinraum-Handhabung, Oberflächenbeschichtung, Reinigungsprozesse vor dem Bonden
Unzureichende Wärmeableitung->Überhitzung des Bauteils und vorzeitiger Ausfall->Thermische Durchkontaktierungen, Wärmespreizer, Materialauswahl mit hoher Wärmeleitfähigkeit

Industrielles Ökosystem und technische Bewertung

Montage- und Anwendungskompatibilität
Dieser Leadframe/dieses Substrat ist für verschiedene Halbleitergehäusetypen geeignet, einschließlich QFP, SOIC, BGA und CSP. Vor der Bestellung sollten Sie die spezifischen Abmessungen, die Pin-Anzahl und die Materialanforderungen bestätigen.
Engineering-Risiken
  • CTE-Fehlanpassung verursacht thermische Spannung
  • Delamination während des Reflow-Lötens
  • Korrosion in feuchter Umgebung
  • Drahtbond-Abheben
  • Ermüdung der Lötverbindungen

Konformität und Prüfung

Toleranz
±0,02mm für kritische Abmessungen, ±0,05mm für allgemeine Merkmale
Prüfverfahren
Röntgenprüfung auf innere Defekte, Querschnittsanalyse, Temperaturwechselprüfung (-55°C bis 150°C), Feuchtigkeitsprüfung (85°C/85% RH), Scher- und Zugprüfungen für Bondintegrität

Hersteller für diese Komponente

Relevante Herstellerprofile aus der CNFX-Komponentenfähigkeitstabelle.

Die Herstellerliste dient der Vorrecherche und Einordnung von Fertigungskapazitäten. Sie ist keine Zertifizierung, kein Ranking und keine Transaktionsgarantie.

Beispielhafte Bewertungskriterien aus Einkaufsprozessen

Keine Kundenbewertung und keine Echtzeitdaten. Die Werte zeigen typische Prüfkriterien in RFQ- und Lieferantenbewertungsprozessen.

Technische Dokumentation
4/5
Fertigungsfähigkeit
4/5
Prüfbarkeit
5/5
Lieferantentransparenz
3/5

Die Kriterien dienen als Orientierung für technische Einkaufsprüfungen. Konkrete Kunden, Länder, Bewertungsdaten oder Live-Nachfragen werden nur angezeigt, wenn entsprechende belastbare Daten vorliegen.

Verwandte Komponenten

Häufige Fragen

Was ist der Unterschied zwischen Leadframe und Substrat?

Leadframes sind einlagige Metallrahmen, die in traditionellen Gehäusen wie QFP und SOIC verwendet werden, während Substrate mehrschichtige Strukturen (organisch oder keramisch) sind, die in fortschrittlichen Gehäusen wie BGA und CSP verwendet werden, die eine höhere Verdrahtungsdichte erfordern.

Welche Materialien werden üblicherweise für Leadframes verwendet?

Kupferlegierungen (C194, C7025) sind am gebräuchlichsten wegen ihrer Leitfähigkeit und Kosten, während Alloy 42 und Kovar verwendet werden, wenn die CTE-Anpassung an Silizium kritisch ist. Beschichtungen mit Silber, Gold oder NiPdAu bieten bondbare Oberflächen.

Wie beeinflusst das Substratdesign die Gehäuseleistung?

Das Substratdesign beeinflusst die elektrische Leistung (Impedanzkontrolle, Signalintegrität), das Wärmemanagement (Wärmeverteilung), die mechanische Zuverlässigkeit (Verzugskontrolle) und die Miniaturisierungsfähigkeit durch mehrschichtige Verdrahtung.

Kann ich Hersteller direkt kontaktieren?

CNFX ist ein offenes Verzeichnis, keine Handelsplattform und kein Beschaffungsagent. Herstellerprofile und Formulare helfen bei der Vorbereitung des direkten Kontakts.

CNFX Industrial Component Index · Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen

Datenbasis

CNFX-Herstellerprofile, technische Klassifikation, öffentlich verfügbare Produktinformationen und fortlaufende Plausibilitätsprüfung.

Vorläufige technische Einordnung
Diese Seite dient der strukturierten Vorbereitung von Recherche, RFQ und Lieferantenbewertung. Sie ersetzt keine Lieferantenqualifizierung, keine Normenprüfung und keine technische Freigabe durch den Käufer.

Beschaffungsinformationen anfragen für Leadframe / Substrat

Informationen zu Einsatzbereich, Spezifikationsgrenzen, Lieferantentypen und RFQ-Vorbereitung anfragen.

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