Strukturierte Fertigungsdaten · 2026

Gehäuse

Auf Basis strukturierter CNFX-Herstellerprofile wird Gehäuse im Bereich Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen anhand von Standardkonfiguration bis Schwerlastanforderung eingeordnet.

Technische Definition und Kernbaugruppe

Ein typisches Gehäuse wird durch die Baugruppe aus Leiterrahmen / Substrat und Die-Bond-Pad beschrieben. Für industrielle Anwendungen werden Materialauswahl, Fertigungsprozess und Prüfbarkeit gemeinsam bewertet.

Das schützende Gehäuse und die elektrische Schnittstelle für einen 3-Achsen-Gyroskop-Chip.

Technische Definition

Bei einem 3-Achsen-Gyroskop ist das Gehäuse die physikalische Ummantelung, die den empfindlichen MEMS-Sensor-Die (Mikro-Elektro-Mechanische Systeme) vor Umwelteinflüssen wie Feuchtigkeit, Staub und mechanischer Belastung schützt. Es stellt den strukturellen Rahmen, die elektrischen Anschlüsse (typischerweise über Anschlussdrähte, Pads oder ein Ball Grid Array) bereit und umfasst oft eine hermetische Dichtung, um die Langzeitzuverlässigkeit und Leistungsstabilität der inertiellen Messeinheit sicherzustellen.

Funktionsprinzip

Das Gehäuse hat kein aktives Arbeitsprinzip wie ein Sensorelement. Seine Funktion ist passiv: Es umschließt den Gyroskop-Die physikalisch, bietet eine stabile mechanische Plattform, ermöglicht die elektrische Verbindung zur externen Leiterplatte und schirmt die internen Komponenten vor externen Umgebungs- und elektromagnetischen Störungen ab.

Hauptmaterialien

Kunststoff (z.B. Epoxid-Formmasse) Keramik (z.B. Aluminiumoxid) Metall (z.B. Kovar-Legierung für Deckel)

Komponenten / BOM

Leiterrahmen / Substrat
Dient als strukturelle Basis und stellt elektrische Verbindungsspuren zwischen dem Chip und den externen Anschlüssen/Pads bereit.
Material: Kupferlegierung
Die-Bond-Pad
Die Fläche auf dem Leadframe/Substrat, auf der der Gyroskopsensor-Chip montiert und gebondet wird.
Material: Metall (oft beschichtet)
Drahtbondverbindungen / Lötpunkte
Herstellung elektrischer Verbindungen zwischen den Bondpads des Chips und den Anschlüssen des Leadframes/Substrats.
Material: Golddraht oder Lötlegierung
Formmasse / Deckel
Bildet den Hauptschutzkörper (Kunststoffformteil) oder dichtet den Hohlraum ab (Keramik-/Metall-Deckel).
Material: Epoxidharz oder Keramik/Metall

FMEA · Fehleranalyse

Ursache → Fehlermodus → Engineering-Maßnahme

Feuchtigkeitseintritt, der eine Gewichtszunahme von mehr als 0,1 % in der Formmasse überschreitet Popcorn-Rissbildung während des Reflow bei 220-260 °C Spitzentemperatur Trocknen bei 125 °C für 24 Stunden vor der Montage, hermetische Dichtung mit 0,5 mm Löt-Dichtungsring
CTE-Mismatch-Spannung, die 150 MPa an der Die-Montage-Grenzfläche überschreitet Bonddrahtbruch bei 25 µm Golddraht, Rissbildung an der ersten Bond-Ferse Underfill-Epoxidharz mit CTE 25 ppm/°C und Elastizitätsmodul 8 GPa, Kupfer-Leiterrahmen mit 17 ppm/°C CTE

Technische Bewertung

Betriebsbereich
Betriebsbereich
0-125 °C Umgebungstemperatur, 0-100 % relative Luftfeuchte (nicht kondensierend), 3,0-3,6 V Versorgungsspannung.
Belastungs- und Ausfallgrenzen
Gehäusedelaminierung bei 260 °C für 10 Sekunden (Reflow-Grenze), feuchtigkeitsinduzierte Rissbildung bei 85 °C/85 % relative Luftfeuchte für 168 Stunden (JEDEC Level 1), Lötstellenermüdung bei 1500 thermischen Zyklen (-40 °C bis 125 °C).
Mismatch des thermischen Ausdehnungskoeffizienten (CTE) zwischen Silizium-Die (2,6 ppm/°C), Formmasse (8-15 ppm/°C) und Leiterplatte (16-18 ppm/°C), der zu Grenzflächenspannungen führt; hygroskopische Quellung der Epoxid-Formmasse durch Aufnahme von 0,2-0,3 % Feuchtigkeit bezogen auf das Gewicht.
Fertigungskontext
Gehäuse wird innerhalb von Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen nach Material, Prozessfenster und Prüfanforderungen bewertet.

Weitere Produktbezeichnungen

Encapsulation Housing

Taxonomie und Suchbegriffe

Suchbegriffe, Aliase und technische Bezeichnungen für diesen CNFX Datensatz.

Anwendungen / Eingebaute Systeme

Dieses Teil oder Produkt erscheint in den folgenden Systemen und Maschinen.

Eignung und Auslegungsdaten

Betriebsgrenzen
Traglast:0 bis 1 atm (nicht unter Druck)
Verstellbereich / Reichweite:Nicht zutreffend
Einsatztemperatur:-40 °C bis +85 °C
Montage- und Anwendungskompatibilität
Saubere trockene LuftInertgasumgebungenNicht-korrosive Industrieatmosphären
Nicht geeignet: Direkte Flüssigkeitstauchung oder Hochdruck-Reinigung
Auslegungsdaten
  • Leiterplatten-Footprint-Abmessungen (mm)
  • Erforderlicher Anschlusstyp und Pin-Anzahl
  • Befestigungsmethode und Freiraumanforderungen

Zuverlässigkeits- und Risikoanalyse

Ausfallmodus und Ursache
Dichtungsverschlechterung
Cause: Chemische Inkompatibilität zwischen den Dichtungsmaterialien des Gehäuses und den gelagerten Inhalten, die mit der Zeit zu Quellung, Verhärtung oder Rissbildung führt.
Strukturelle Ermüdung
Cause: Wiederholte mechanische Belastung durch Handhabung, Stapelung oder Transport, die zu Materialermüdung an Spannungskonzentrationspunkten wie Ecken oder Nähten führt.
Wartungsindikatoren
  • Sichtbare Ausbeulung oder Verformung der Gehäusewände, die Druckaufbau oder strukturelle Beeinträchtigung anzeigt.
  • Hörbares Zischen oder Pfeifgeräusche, die auf Dichtungsversagen und Gas-/Flüssigkeitsleckage hindeuten.
Technische Hinweise
  • Materialverträglichkeitstests vor der Auswahl der Verpackung für spezifische Inhalte durchführen, unter Berücksichtigung von Chemikalienbeständigkeit, Temperaturtoleranz und mechanischen Eigenschaften.
  • Dehnungsmessstreifen oder Drucksensoren während Transportsimulationen verwenden, um hochbelastete Bereiche im Gehäusedesign zu identifizieren und zu verstärken.

Compliance & Manufacturing Standards

Reference Standards
ISO 9001:2015 - QualitätsmanagementsystemeANSI/ASQ Z1.4-2008 - Stichprobenverfahren und -tabellen für die AttributprüfungDIN 55350-12:1989 - Begriffe zu Qualitätsmanagement und Statistik
Manufacturing Precision
  • Maßstabilität: +/-0,5 mm
  • Dichtungsintegrität: Leckrate < 0,01 cm³/min
Quality Inspection
  • Visuelle Inspektion auf Oberflächendefekte
  • Drucktest für strukturelle Integrität

Hersteller, die dieses Produkt fertigen

Herstellerprofile mit passender Produktionsfähigkeit in China.

Die Herstellerliste dient der Vorrecherche und Einordnung von Fertigungskapazitäten. Sie ist keine Zertifizierung, kein Ranking und keine Transaktionsgarantie.

Beispielhafte Bewertungskriterien aus Einkaufsprozessen

Keine Kundenbewertung und keine Echtzeitdaten. Die Werte zeigen typische Prüfkriterien in RFQ- und Lieferantenbewertungsprozessen.

Technische Dokumentation
4/5
Fertigungsfähigkeit
4/5
Prüfbarkeit
5/5
Lieferantentransparenz
3/5

Die Kriterien dienen als Orientierung für technische Einkaufsprüfungen. Konkrete Kunden, Länder, Bewertungsdaten oder Live-Nachfragen werden nur angezeigt, wenn entsprechende belastbare Daten vorliegen.

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Häufige Fragen

Welche Materialien werden üblicherweise in Gehäusen für 3-Achsen-Gyroskop-Chips verwendet?

Häufige Materialien umfassen Epoxid-Formmassen (EMC) für die Einkapselung, Aluminiumoxid-Keramik für Substrate und Kovar-Legierungen für Deckel, die thermische Stabilität und Schutz bieten.

Wie schützt das Gehäuse den Gyroskop-Chip?

Das Gehäuse bietet mechanischen Schutz vor physikalischer Beschädigung, schirmt vor Umwelteinflüssen wie Feuchtigkeit und Staub ab und gewährleistet eine korrekte elektrische Verbindung über Bonddrähte oder Lötkugeln.

Was sind die Schlüsselkomponenten in der Stückliste für dieses Gehäuse?

Wichtige Komponenten umfassen die Die-Montagefläche für die Chipbefestigung, den Leiterrahmen/Substrat für elektrische Anschlüsse, die Formmasse/den Deckel für die Einkapselung und die Bonddrähte/Lötkugeln für Verbindungen.

Kann ich Hersteller direkt kontaktieren?

CNFX ist ein offenes Verzeichnis, keine Handelsplattform und kein Beschaffungsagent. Herstellerprofile und Formulare helfen bei der Vorbereitung des direkten Kontakts.

CNFX Industrial Index v2.6.05 · Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen

Datenbasis

CNFX-Herstellerprofile, technische Klassifikation, öffentlich verfügbare Produktinformationen und fortlaufende Plausibilitätsprüfung.

Vorläufige technische Einordnung
Diese Seite dient der strukturierten Vorbereitung von Recherche, RFQ und Lieferantenbewertung. Sie ersetzt keine Lieferantenqualifizierung, keine Normenprüfung und keine technische Freigabe durch den Käufer.

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