Strukturierte Fertigungsdaten · 2026

Clock Data Recovery Unit

Auf Basis strukturierter CNFX-Herstellerprofile wird Clock Data Recovery Unit im Bereich Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen anhand von Datenratenbereich bis Versorgungsspannung eingeordnet.

Technische Definition und Kernbaugruppe

Ein typisches Clock Data Recovery Unit wird durch die Baugruppe aus Phasendetektor und Schleifenfilter beschrieben. Für industrielle Anwendungen werden Materialauswahl, Fertigungsprozess und Prüfbarkeit gemeinsam bewertet.

Eine Schaltung, die das Taktsignal aus einem seriellen Datenstrom extrahiert und rekonstruiert und so die synchrone Datenrückgewinnung in Serializer/Deserializer-Systemen ermöglicht.

Technische Definition

Die Clock Data Recovery Unit ist eine kritische Komponente in Daten-Serializer/Deserializer-Systemen (SerDes). Ihre Hauptfunktion besteht darin, ein stabiles, jitterarmes Taktsignal direkt aus dem eingehenden seriellen Datenstrom zurückzugewinnen, dem eine separate Taktleitung fehlt. Dieser zurückgewonnene Takt wird dann verwendet, um die Daten am optimalen Punkt jeder Bitperiode abzutasten, wodurch eine genaue Datenrekonstruktion und Synchronisation zwischen Sender und Empfänger gewährleistet wird. Die Einheit arbeitet über einen Datenratenbereich von 1–12,5 Gbit/s und unterstützt gängige serielle Standards; ein Betrieb außerhalb dieses Bereichs kann zu Bitfehlern führen. Sie benötigt eine Versorgungsspannung von 1,8 V ±10 % und verbraucht 50–150 mW, wobei ein geringerer Stromverbrauch für tragbare Geräte vorteilhaft ist. Die Jittertoleranz beträgt 0,6 UI bei einer Bitfehlerrate von 1e-12 gemäß ITU-T G.825 und gewährleistet eine zuverlässige Datenrückgewinnung unter verrauschten Bedingungen. Der Betriebstemperaturbereich liegt bei -40 bis +85 °C, geeignet für industrielle Anwendungen, mit einem breiteren Bereich für Automobilanwendungen. Die Eingangsempfindlichkeit beträgt 50–200 mVpp, die Verriegelungszeit 1–10 ms, was für den Burst-Modus schneller ist. Der Ausgangstaktjitter beträgt ≤1 ps RMS, was für die Integrität von Hochgeschwindigkeitsdaten entscheidend ist. Die Einheit ist in QFN-32- und BGA-48-Gehäusen gemäß JEDEC MS-026 erhältlich und bietet einen ESD-Schutz von ±2 kV HBM gemäß IEC 61000-4-2. Die Eingangsimpedanz beträgt 50 Ω ±10 %, und der Ausgangslogikpegel ist CML bei 400 mVpp, kompatibel mit gängigen SerDes-Schnittstellen. Die Prozesstechnologie ist 28-nm-CMOS, was geringeren Stromverbrauch und höhere Geschwindigkeit bietet. Die Einheit wird auf einem Silizium-Halbleitersubstrat hergestellt. Für spezifische Anwendungen verifizieren Sie modellspezifische Werte und Normen mit dem rechtlichen Hersteller oder Lieferanten.

Funktionsprinzip

Sie arbeitet mit einer Phasenregelschleife (PLL) oder einer Verzögerungsregelschleife (DLL). Die Schaltung vergleicht die Phase eines spannungsgesteuerten Oszillators (VCO) mit Übergängen im eingehenden Datenstrom. Ein Phasendetektor erzeugt ein Fehlersignal proportional zur Phasendifferenz. Dieses Fehlersignal wird gefiltert und verwendet, um die Frequenz und Phase des VCO anzupassen, bis er auf die Datenrate einrastet, wodurch ein sauberes Taktsignal synchron zu den eingehenden Daten regeneriert wird.

Technische Parameter

Technische Parameter
ParameterTypischer BereichHinweise & Auswahlkriterien
Datenratenbereich1–12.5 GbpsSupports common serial standards; outside range may cause bit errors.
Versorgungsspannung1.8 V ±10% VMust match system power rail; deviation may cause malfunction.
Leistungsaufnahme50–150 mWLower is better for portable devices; high power may require heat sinking.
Jittertoleranz0.6 UI @ 1e-12 BER UIEnsures reliable data recovery under noisy conditions.ITU-T G.825
Betriebstemperaturbereich-40–+85 °CIndustrial grade; wider range for automotive.IEC 60068-2-1/2
Eingangsempfindlichkeit50–200 mVppMinimum signal amplitude for reliable clock recovery.
Sperrzeit1–10 msTime to acquire lock after signal loss; faster is better for burst mode.
Taktjitter≤ 1 ps RMSLow jitter critical for high-speed data integrity.
GehäusetypQFN-32, BGA-48Affects PCB footprint and thermal performance.JEDEC MS-026
ESD Schutz±2 kV HBM kVEnsures robustness in handling and operation.IEC 61000-4-2
Eingangsimpedanz50 ±10% ΩMatching to transmission line reduces reflections.
AusgangslogikpegelCML, 400 mVpp mVCompatible with common SerDes interfaces.
Prozesstechnologie28 nm CMOS nmSmaller nodes offer lower power and higher speed.

Die Bereiche sind branchenübliche Richtwerte zur Angebotsvorbereitung und keine Zusage des Lieferanten. Bestätigen Sie jeden Wert und jede Norm vor der Bestellung beim rechtlichen Hersteller.

Hauptmaterialien

Silizium (Halbleitersubstrat)

Komponenten / BOM

Components / BOM
  • Phasendetektor
    Vergleicht die Phase der eingehenden Datenflanken mit dem intern erzeugten Takt, um ein Fehlersignal zu erzeugen.
    Material: Halbleiter (CMOS-Transistoren)
  • Schleifenfilter
    Filtert das Phasenfehlersignal zur Regelung der Dynamik des Rückkopplungskreises und zur Rauschreduzierung.
    Material: On-Chip-Widerstände und -Kondensatoren
  • Spannungsgesteuerter Oszillator (VCO)
    Erzeugt das Taktsignal; seine Frequenz wird durch die gefilterte Fehlerspannung vom Schleifenfilter eingestellt.
    Material: Halbleiter (CMOS/LC-Komponenten)

FMEA · Fehleranalyse

Ursache → Fehlermodus → Engineering-Maßnahme

Welligkeit der Stromversorgung über 50 mVpp bei 100 kHz-10 MHz Frequenzen Phasenregelschleife verliert die Synchronisation, wodurch die Bitfehlerrate 10^-12 überschreitet Integrierter Längsregler mit 60 dB Netzunterdrückung und 100 pF Entkopplungskondensatoren auf dem Chip
Elektrostatische Entladung von 2 kV Human Body Model an den Dateneingangsanschlüssen Gateoxid-Durchschlag in Eingangspuffertransistoren, wodurch die Eingangskapazität über 2 pF steigt ESD-Schutzzellen mit Doppeldioden, 5 Ω Reihenwiderständen und 100 fF Shunt-Kondensatoren an allen I/O-Pads

Technische Bewertung

Betriebsbereich
Betriebsbereich
1,8-3,3 V Eingangsspannung, 0,1-6,4 Gbps Datenrate, -40 bis 85°C Umgebungstemperatur
Belastungs- und Ausfallgrenzen
Die Phasenregelschleife verliert den Takt bei >200 ps Spitze-Spitze-Jitter, Eingangsspannung unter 1,62 V oder Temperatur über 125°C Sperrschichttemperatur
Sättigung des Phasendetektors aufgrund von übermäßigem Eingangsjitter, der die PLL-Bandbreite (typisch 0,1-10 MHz) überschreitet, was zu einer Frequenzdrift des spannungsgesteuerten Oszillators über den Einfangbereich hinaus führt; thermisches Durchgehen in CMOS-Transistoren bei hohen Temperaturen erhöht den Leckstrom und reduziert das Signal-Rausch-Verhältnis unter 20 dB
Fertigungskontext
Clock Data Recovery Unit wird innerhalb von Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen nach Material, Prozessfenster und Prüfanforderungen bewertet.

Taxonomie und Suchbegriffe

Suchbegriffe, Aliase und technische Bezeichnungen für diesen CNFX Datensatz.

Anwendungen / Eingebaute Systeme

Dieses Teil oder Produkt erscheint in den folgenden Systemen und Maschinen.

Eignung und Auslegungsdaten

Betriebsgrenzen
voltage:1,8 V bis 3,3 V Versorgungsspannungsbereich
data rate:1 Mbps bis 10 Gbps
Betriebstemperatur:-40°C bis +85°C (Industriequalität)
jitter tolerance:0,1 UI bis 0,5 UI
power consumption:10 mW bis 500 mW
Montage- und Anwendungskompatibilität
NRZ-Datenströme (Non-Return-to-Zero)PAM-4-codierte Signale (Pulsamplitudenmodulation)Elektrische Schnittstellen von optischen Transceivern
Nicht geeignet: Hochspannungs-Stromleitungskommunikationsumgebungen (>50 V)
Auslegungsdaten
  • Datenrate (bps)
  • Jitterspezifikation (UI oder ps)
  • Referenztaktfrequenz (MHz)

Zuverlässigkeits- und Risikoanalyse

Ausfallmodus und Ursache
Jitterakkumulation und Taktabweichung
Ursache: Degradation von Phasenregelschleifen-Komponenten (z.B. Alterung des spannungsgesteuerten Oszillators, Leckage der Ladungspumpe) oder Rauschen der Stromversorgung, das die Stabilität des Referenztakts beeinträchtigt
Signaleinrastfehler oder Synchronisationsverlust
Ursache: Dämpfung der Taktsignalamplitude aufgrund von Impedanzfehlanpassung der Übertragungsleitung, elektromagnetischer Störungen (EMI) oder Degradation der Eingangspufferschaltung
Wartungsindikatoren
  • Erhöhte Bitfehlerrate (BER) oder Datenkorruption in nachgeschalteten Systemen
  • Hörbares Hochfrequenzpfeifen oder sichtbare Überhitzung des CDR-Einheitsgehäuses
Technische Hinweise
  • Implementieren Sie eine periodische Kalibrierung der PLL-Parameter mit automatisierten Testgeräten, um Komponentenalterung und Umwelteinflüsse zu kompensieren
  • Halten Sie strenge EMI-Abschirmungs- und Stromversorgungsentkopplungsprotokolle ein, einschließlich regelmäßiger Inspektion von Filterkondensatoren und Erdungsintegrität

Konformität und Fertigungsnormen

Referenznormen
IEC 61000-4-2 - Elektromagnetische Verträglichkeit (Störfestigkeit gegen ESD)
Fertigungsgenauigkeit
  • Jitter-Toleranz: +/- 100 ps Spitze-Spitze
  • Phasenregelbereich: +/- 500 ppm
Qualitätsprüfung
  • Bitfehlerratentest (BERT)
  • Jitter-Toleranztest

Hersteller von Clock Data Recovery Unit

Herstellerprofile mit passender Produktionsfähigkeit in China.

Die Herstellerliste dient der Vorrecherche und Einordnung von Fertigungskapazitäten. Sie ist keine Zertifizierung, kein Ranking und keine Transaktionsgarantie.

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Beispielhafte Bewertungskriterien aus Einkaufsprozessen

Keine Kundenbewertung und keine Echtzeitdaten. Die Werte zeigen typische Prüfkriterien in RFQ- und Lieferantenbewertungsprozessen.

Technische Dokumentation
4/5
Fertigungsfähigkeit
4/5
Prüfbarkeit
5/5
Lieferantentransparenz
3/5

Die Kriterien dienen als Orientierung für technische Einkaufsprüfungen. Konkrete Kunden, Länder, Bewertungsdaten oder Live-Nachfragen werden nur angezeigt, wenn entsprechende belastbare Daten vorliegen.

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Häufige Fragen

Was ist die Hauptfunktion einer Clock Data Recovery Unit?

Sie extrahiert und rekonstruiert ein stabiles Taktsignal aus einem eingehenden seriellen Datenstrom, um eine genaue Datenabtastung und Synchronisation in SerDes-Systemen zu ermöglichen.

Welche Datenraten unterstützt diese Einheit?

Die Einheit unterstützt einen Datenratenbereich von 1–12,5 Gbit/s. Ein Betrieb außerhalb dieses Bereichs kann zu Bitfehlern führen. Überprüfen Sie die Kompatibilität mit Ihrem System.

Wie lautet die Jittertoleranz-Spezifikation?

Die Jittertoleranz beträgt 0,6 UI bei einer Bitfehlerrate von 1e-12 gemäß ITU-T G.825, was eine zuverlässige Datenrückgewinnung unter verrauschten Bedingungen gewährleistet.

Welche Gehäuseoptionen sind verfügbar?

Die Einheit ist in QFN-32- und BGA-48-Gehäusen gemäß JEDEC MS-026 erhältlich. Bestätigen Sie das genaue Gehäuse und die thermischen Anforderungen mit dem Hersteller.

Kann ich Hersteller direkt kontaktieren?

CNFX ist ein offenes Verzeichnis, keine Handelsplattform und kein Beschaffungsagent. Herstellerprofile und Formulare helfen bei der Vorbereitung des direkten Kontakts.

CNFX Industrial Index v2.6.09 · Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen

Datenbasis

CNFX-Herstellerprofile, technische Klassifikation, öffentlich verfügbare Produktinformationen und fortlaufende Plausibilitätsprüfung.

Vorläufige technische Einordnung
Diese Seite dient der strukturierten Vorbereitung von Recherche, RFQ und Lieferantenbewertung. Sie ersetzt keine Lieferantenqualifizierung, keine Normenprüfung und keine technische Freigabe durch den Käufer.
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