Strukturierte Fertigungsdaten · 2026

Latch/Register-Bank

Auf Basis strukturierter CNFX-Herstellerprofile wird Latch/Register-Bank im Bereich Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen anhand von Versorgungsspannung bis Betriebstemperatur eingeordnet.

Technische Definition und Kernbaugruppe

Ein typisches Latch/Register-Bank wird durch die Baugruppe aus Einzelspeicher/Register und Adressdekoder beschrieben. Für industrielle Anwendungen werden Materialauswahl, Fertigungsprozess und Prüfbarkeit gemeinsam bewertet.

Eine digitale Schaltungskomponente, die mehrere binäre Datenwerte in einem Quantisierer/Komparator-Netzwerk speichert und verwaltet.

Technische Definition

Eine Latch/Register-Bank ist eine kritische Komponente in Quantisierer/Komparator-Netzwerken, die während Signalverarbeitungsoperationen temporäre Speicherung für digitale Daten bereitstellt. Sie besteht aus mehreren parallel angeordneten Latches oder Registern, die gleichzeitiges Speichern und Abrufen mehrerer Datenbits oder -wörter ermöglichen. In Quantisierer/Komparator-Systemen hält sie typischerweise Zwischenvergleichsergebnisse, Schwellenwerte oder Quantisierungsstufen, was Pipeline-Verarbeitung ermöglicht und Datenzugriffsengpässe reduziert. Die Bank wird aus Silizium hergestellt, mit Kupfer- und Aluminiumverbindungen, und ist in Oberflächenmontage-Gehäusen wie SOIC-16 bis TSSOP-20 erhältlich. Wichtige elektrische Parameter umfassen einen Versorgungsspannungsbereich von 3,3–5,0 V, Betriebstemperatur von -40 bis 85 °C und Lagertemperatur von -55 bis 125 °C. Logikpegel folgen CMOS-Standards mit Eingangshochspannung von 2,0–5,5 V und Eingangsniederspannung von 0–0,8 V, während Ausgangshoch- und -niederspannung 2,4–5,5 V bzw. 0–0,4 V betragen. Die Ausbreitungsverzögerung liegt zwischen 1,5 und 10 ns, und die maximale Taktfrequenz beträgt 100–200 MHz. Die Eingangskapazität beträgt 2–10 pF pro Pin, und der Ausgangstreiberstrom beträgt ±4 bis ±24 mA. Die Gesamtverlustleistung beträgt 0,5–2,5 W, und die ESD-Toleranz liegt bei 2000–8000 V (HBM). Diese Werte sind Referenzbereiche und müssen für das spezifische Modell und die Anwendung verifiziert werden. Das Gerät ist für den Einsatz in Quantisierer/Komparator-Netzwerken vorgesehen, wo es Vergleichsergebnisse und Quantisierungsparameter puffert und mit Analog-Digital-Wandlern und digitalen Signalprozessoren verbindet. Es ist kein eigenständiges Produkt, sondern eine Komponente zur Integration in größere Systeme. Konsultieren Sie immer das Datenblatt des Herstellers für genaue Spezifikationen und Konformität mit relevanten Standards.

Funktionsprinzip

Die Latch/Register-Bank arbeitet mit Taktsignalen, um zu steuern, wann Daten erfasst und gespeichert werden. Jedes Latch oder Register in der Bank kann einzeln adressiert oder gesteuert werden, um binäre Werte zu speichern. Wenn aktiviert, werden Eingangsdaten gelatcht und bis zum nächsten Taktzyklus oder Steuersignal gehalten. In Quantisierer/Komparator-Anwendungen verbindet sie sich oft mit Analog-Digital-Wandlern und digitalen Signalprozessoren, um Vergleichsergebnisse und Quantisierungsparameter zu puffern. Die Bank unterstützt parallele Datenspeicherung und -abruf, was gleichzeitige Verarbeitung mehrerer Bits oder Wörter ermöglicht. Taktfrequenz und Ausbreitungsverzögerung bestimmen die Geschwindigkeit der Datenerfassung und -ausgabe. Das Gerät ist für den Einsatz in digitalen Signalverarbeitungsketten konzipiert, wo es hilft, Datenfluss zu verwalten und Engpässe zu reduzieren. Korrekter Betrieb erfordert geeignete Versorgungsspannung und Logikpegel, und das Gerät muss innerhalb der angegebenen Temperatur- und elektrischen Grenzen betrieben werden, um zuverlässige Leistung zu gewährleisten.

Technische Parameter

Technische Parameter
ParameterTypischer BereichHinweise & Auswahlkriterien
Versorgungsspannung3.3–5.0 VOperating range for logic levelsIEC 60664
Betriebstemperatur-40–85 °CExtended industrial rangeIEC 60068-2-1
Lagertemperatur-55–125 °CNon-operating survival rangeIEC 60068-2-2
Eingangsspannung High2.0–5.5 VVIH for CMOS logicJEDEC JESD8
Eingangsspannung Low0–0.8 VVIL for CMOS logicJEDEC JESD8
Ausgangsspannung High2.4–5.5 VVOH at specified loadJEDEC JESD8
Ausgangsspannung Low0–0.4 VVOL at specified loadJEDEC JESD8
Signallaufzeit1.5–10 nsTypical for CMOS technologyJEDEC JESD8
Maximale Taktfrequenz100–200 MHzDepends on supply voltage and loadJEDEC JESD8
Eingangskapazität2–10 pFPer input pinJEDEC JESD8
Ausgangsstrom±4–±24 mASink/source capabilityJEDEC JESD8
Leistungsaufnahme0.5–2.5 WTotal for all channelsJEDEC JESD8
ESD Festigkeit2000–8000 VHBM modelIEC 61000-4-2
GehäusetypSOIC-16–TSSOP-20Surface mount optionsJEDEC MS-012

Die Bereiche sind branchenübliche Richtwerte zur Angebotsvorbereitung und keine Zusage des Lieferanten. Bestätigen Sie jeden Wert und jede Norm vor der Bestellung beim rechtlichen Hersteller.

Hauptmaterialien

Silizium Kupfer Aluminium

Komponenten / BOM

Components / BOM
  • Einzelspeicher/Register
    Speichert ein einzelnes Datenwort oder einen einzelnen Bitwert
    Material: Silizium
  • Adressdekoder
    Wählt spezifische Register für Lese-/Schreibvorgänge aus
    Material: Silizium
  • Steuerlogik
    Verwaltet Taktsignale und Freigabe-/Sperrfunktionen
    Material: Silizium
  • Datenbusschnittstelle
    Verbinder für System-Datenbusse zur Ein-/Ausgabe
    Material: Kupfer/Aluminium

FMEA · Fehleranalyse

Ursache → Fehlermodus → Engineering-Maßnahme

Versorgungsspannungseinbruch auf 0,7 V während der Haltephase Gespeicherter Bit-Flip von 1 auf 0 aufgrund unzureichender Ladungserhaltung Integrierter Spannungsüberwacher mit 0,8 V-Schwelle und Backup-Kondensatorbank
Takt-/Datenskew über 1,5 ns Setup-Zeitverletzung Metastabile Ausgangsschwingung zwischen 0,4 V und 2,9 V für >10 ns Dual-Rank-Synchronisation mit 2,0 ns Schutzband und Schmitt-Trigger-Eingängen

Technische Bewertung

Betriebsbereich
Betriebsbereich
0,8-1,2 V bei 25 °C Umgebungstemperatur, 1,0-3,3 V Versorgungsspannung, -40 °C bis 85 °C Betriebstemperatur
Belastungs- und Ausfallgrenzen
Datenerhaltungsfehler bei 0,7 V Haltespannung, Metastabilität bei 1,5 ns Setup-/Hold-Verletzung, Latch-up bei 2,5 mA Injektionsstrom
Quantentunneln bei unter 0,7 V verursacht Ladungsleckage, Elektronenmigration bei über 125 °C Sperrschichttemperatur, parasitäre Thyristoraktivierung bei über 2,5 mA Substratstrom
Fertigungskontext
Latch/Register-Bank wird innerhalb von Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen nach Material, Prozessfenster und Prüfanforderungen bewertet.

Taxonomie und Suchbegriffe

Suchbegriffe, Aliase und technische Bezeichnungen für diesen CNFX Datensatz.

Anwendungen / Eingebaute Systeme

Dieses Teil oder Produkt erscheint in den folgenden Systemen und Maschinen.

Eignung und Auslegungsdaten

Betriebsgrenzen
Betriebsdruck:Nicht zutreffend (Festkörperkomponente)
Durchflussrate:Nicht zutreffend (digitale Komponente)
Betriebstemperatur:-40 °C bis 125 °C
Montage- und Anwendungskompatibilität
Digitale SignalverarbeitungssystemeAnalog-Digital-Wandler (ADC)-SteuerlogikZeitgeberschaltungen für Datenerfassungssysteme
Nicht geeignet: Hochspannungs- oder Hochstrom-Leistungsschaltumgebungen
Auslegungsdaten
  • Erforderliche Anzahl an Bits/Registern
  • Taktfrequenz/Abtastrate
  • Versorgungsspannung und Leistungsaufnahmebeschränkungen

Zuverlässigkeits- und Risikoanalyse

Ausfallmodus und Ursache
Metastabiler Latch-Ausgang, wenn der Komparator an seiner Schwelle steht
Ursache: In einem Quantisierer liegt der Eingang häufig beliebig nahe an einer Entscheidungsschwelle; das Latch wird getaktet, während seine Eingänge im Gleichgewicht sind, braucht dann unbestimmt lange zum Einschwingen, und die Folgestufe kann einen Pegel lesen, der weder logisch hoch noch niedrig ist
Codefehler durch Laufzeitunterschiede zwischen den Latches der Bank
Ursache: Die Latches der Bank werden über Pfade ungleicher Verzögerung getaktet; Bits derselben Wandlung werden dadurch zu leicht verschiedenen Zeitpunkten übernommen und der zusammengesetzte Code entspricht keinem einzelnen Eingangsabtastwert
Wartungsindikatoren
  • Vereinzelte falsche Codes in der Nähe der Übergangspunkte der Kennlinie, die bei verringerter Abtastrate verschwinden
  • Die Bitfehlerrate steigt mit der Abtastrate, während Analogeingang und Referenz unverändert bleiben
Technische Hinweise
  • Zwischen Latch und der ersten auswertenden Logik ein ausdrückliches Einschwingintervall vorsehen und es aus der gemessenen Einschwingzeitkonstante ableiten, nicht aus einer Faustregel
  • Die Taktverteilung über die gesamte Bank symmetrieren und den verbleibenden Versatz gegen die Wandlungsrate nachweisen, da sich der Fehler als falscher Code und nicht als gemeldete Zeitverletzung zeigt

Konformität und Fertigungsnormen

Referenznormen
JEDEC-Reihe JESD22: Prüfverfahren zur Zuverlässigkeitsqualifikation von Halbleiterbauelementen
Fertigungsgenauigkeit
  • Die Einschwingzeit muss bei maximaler Abtastrate eine mittlere Zeit zwischen Ausfällen oberhalb des geforderten Zielwerts ergeben
  • Die Setup- und Haltezeitreserven müssen an jeder spezifizierten Ecke eingehalten werden, nicht nur unter Nennbedingungen
Qualitätsprüfung
  • Charakterisierung der Metastabilität: der Komparatoreingang wird beliebig nahe an die Entscheidungsschwelle geführt und die Einschwingzeit des Übernahme-Latches gemessen
  • Nachweis der Setup- und Haltezeiten des Übernahmepfads über alle spezifizierten Prozess-, Spannungs- und Temperaturecken

Hersteller von Latch/Register-Bank

Herstellerprofile mit passender Produktionsfähigkeit in China.

Die Herstellerliste dient der Vorrecherche und Einordnung von Fertigungskapazitäten. Sie ist keine Zertifizierung, kein Ranking und keine Transaktionsgarantie.

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Beispielhafte Bewertungskriterien aus Einkaufsprozessen

Keine Kundenbewertung und keine Echtzeitdaten. Die Werte zeigen typische Prüfkriterien in RFQ- und Lieferantenbewertungsprozessen.

Technische Dokumentation
4/5
Fertigungsfähigkeit
4/5
Prüfbarkeit
5/5
Lieferantentransparenz
3/5

Die Kriterien dienen als Orientierung für technische Einkaufsprüfungen. Konkrete Kunden, Länder, Bewertungsdaten oder Live-Nachfragen werden nur angezeigt, wenn entsprechende belastbare Daten vorliegen.

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Häufige Fragen

Was ist die Hauptfunktion einer Latch/Register-Bank?

Sie bietet temporäre Speicherung für mehrere binäre Datenwerte in einem Quantisierer/Komparator-Netzwerk und hält Zwischenergebnisse, Schwellenwerte oder Quantisierungsstufen, um Pipeline-Verarbeitung zu ermöglichen.

Was sind typische Versorgungsspannungs- und Temperaturbereiche?

Der Versorgungsspannungsbereich beträgt 3,3–5,0 V, die Betriebstemperatur -40 bis 85 °C und die Lagertemperatur -55 bis 125 °C. Dies sind Referenzbereiche; für das spezifische Modell verifizieren.

Wie verbindet sich die Latch/Register-Bank mit anderen Komponenten?

Sie verbindet sich mit Analog-Digital-Wandlern und digitalen Signalprozessoren und puffert Vergleichsergebnisse und Quantisierungsparameter. Sie verwendet Taktsignale zur Steuerung der Datenerfassung und -speicherung.

Welche Standards sind für die Verifizierung relevant?

Relevante Standards umfassen IEC 60664 für Versorgungsspannung, IEC 60068-2-1 und IEC 60068-2-2 für Temperatur, JEDEC JESD8 für Logikpegel und IEC 61000-4-2 für ESD. Bestätigen Sie die Konformität immer mit dem Hersteller.

Kann ich Hersteller direkt kontaktieren?

CNFX ist ein offenes Verzeichnis, keine Handelsplattform und kein Beschaffungsagent. Herstellerprofile und Formulare helfen bei der Vorbereitung des direkten Kontakts.

CNFX Industrial Index v2.6.09 · Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen

Datenbasis

CNFX-Herstellerprofile, technische Klassifikation, öffentlich verfügbare Produktinformationen und fortlaufende Plausibilitätsprüfung.

Vorläufige technische Einordnung
Diese Seite dient der strukturierten Vorbereitung von Recherche, RFQ und Lieferantenbewertung. Sie ersetzt keine Lieferantenqualifizierung, keine Normenprüfung und keine technische Freigabe durch den Käufer.
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