Strukturierte Fertigungsdaten · 2026

Spektrometer-Einheit

Auf Basis strukturierter CNFX-Herstellerprofile wird Spektrometer-Einheit im Bereich Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen anhand von Wellenlängenbereich bis Spektrale Auflösung eingeordnet.

Technische Definition und Kernbaugruppe

Ein typisches Spektrometer-Einheit wird durch die Baugruppe aus Eintrittsspalt und Kollimatorspiegel beschrieben. Für industrielle Anwendungen werden Materialauswahl, Fertigungsprozess und Prüfbarkeit gemeinsam bewertet.

Die optische Kernkomponente eines Spektralanalysators, die Licht in seine Wellenlängen zerlegt.

Technische Definition

Eine Spektrometer-Einheit ist das wesentliche optische Subsystem in einem Spektralanalysator, das einfallendes Licht in seine spektralen Komponenten zerlegt. Sie besteht typischerweise aus einem Eintrittsspalt, Kollimationsoptik, einem Beugungsgitter oder Prisma zur Wellenlängentrennung und Fokussieroptik, die das Spektrum auf ein Detektorarray lenkt. Diese Einheit ermöglicht die quantitative Analyse der Materialzusammensetzung durch Messung der Lichtintensität bei bestimmten Wellenlängen. Die Einheit ist für die Integration in analytische Instrumente konzipiert, die in Bereichen wie Chemie, Materialwissenschaft und Umweltüberwachung eingesetzt werden. Ihre Leistung wird durch Parameter wie Wellenlängenbereich, spektrale Auflösung, Wellenlängengenauigkeit, Wiederholbarkeit, Streulicht, photometrische Genauigkeit, Scangeschwindigkeit, Detektortyp, Signal-Rausch-Verhältnis, Betriebstemperatur, Luftfeuchtigkeitsbereich, Stromversorgung, Leistungsaufnahme, Abmessungen und Gewicht charakterisiert. Diese Parameter sind als Referenzbereiche angegeben und müssen für das spezifische Modell und die Anwendung verifiziert werden. Die Einheit wird typischerweise aus Aluminiumlegierung, optischem Glas und Spiegelbeschichtungen hergestellt. Sie ist für den Einsatz in einer kontrollierten Laborumgebung mit einem Betriebstemperaturbereich von 15–35 °C und nicht kondensierender Luftfeuchtigkeit von 20–80 % rF ausgelegt. Die Stromversorgung beträgt 100–240 V AC, 50/60 Hz, mit einer Leistungsaufnahme von bis zu 100 W. Die Abmessungen betragen etwa 300×400×200 mm (B×T×H) und das Gewicht liegt je nach Detektor und Zubehör zwischen 8 und 12 kg. Für genaue Messungen ist eine Kalibrierung mit Referenzlinien erforderlich, und die photometrische Genauigkeit wird mit NIST-rückführbaren Standards verifiziert. Die Einheit ist eine Komponente, kein vollständiger Analysator, und erfordert die Integration mit geeigneter Elektronik und Software. Bestätigen Sie vor dem Kauf immer modellspezifische Werte und Normen mit dem Hersteller oder Lieferanten.

Funktionsprinzip

Licht tritt durch einen Eintrittsspalt ein und wird zu einem parallelen Strahl kollimiert. Dieser Strahl trifft auf ein Beugungsgitter (oder Prisma), wo verschiedene Wellenlängen gemäß der Gittergleichung in unterschiedlichen Winkeln gebeugt werden. Die getrennten Wellenlängen werden dann auf einen Detektor (wie CCD oder Photodiodenarray) fokussiert, wodurch ein Spektrum entsteht, das analysiert werden kann, um Materialeigenschaften zu bestimmen. Der Detektor wandelt das optische Signal in ein elektrisches Signal um, das verarbeitet wird, um ein Spektrum zu erzeugen. Das Design der Einheit stellt sicher, dass die spektrale Auflösung und Genauigkeit die angegebenen Bereiche erfüllen, aber die tatsächliche Leistung hängt von korrekter Ausrichtung und Kalibrierung ab.

Technische Parameter

Technische Parameter
ParameterTypischer BereichHinweise & Auswahlkriterien
Wellenlängenbereich200–1100 nmCovers UV-Vis-NIR; extended ranges require specialized detectors.
Spektrale Auflösung0.1–2.0 nmDetermines ability to distinguish closely spaced spectral lines.
Wellengenauigkeit±0.05 nmCalibration with reference lines required.
Wellenlängenwiederholbarkeit±0.02 nmStability over consecutive scans.
Streulicht≤0.05 %At 340 nm with NaNO2 solution.
Photometrische Genauigkeit±0.005 AUUsing NIST-traceable standards.
Scangeschwindigkeit100–1000 nm/minFaster speeds reduce resolution.
DetektortypCCD, InGaAsCCD for UV-Vis, InGaAs for NIR.
Signal Rausch Verhältnis≥1000:1At 500 nm, RMS.
Betriebstemperatur15–35 °COutside range may affect wavelength stability.
Luftfeuchtigkeitsbereich20–80 % RHNon-condensing.
Stromversorgung100–240 V AC50/60 Hz, auto-switching.
Leistungsaufnahme≤100 WTypical during operation.
Abmessungen (B×T×H)300×400×200 mmBench-top unit.
Gewicht8–12 kgDepends on detector and accessories.

Die Bereiche sind branchenübliche Richtwerte zur Angebotsvorbereitung und keine Zusage des Lieferanten. Bestätigen Sie jeden Wert und jede Norm vor der Bestellung beim rechtlichen Hersteller.

Hauptmaterialien

Aluminiumlegierung Optisches Glas Spiegelschichten

Komponenten / BOM

Components / BOM
  • Eintrittsspalt
    Steuert die Lichtmenge, die in das Spektrometer eintritt, und definiert die spektrale Auflösung
    Material: Edelstahl
  • Kollimatorspiegel
    Erzeugt parallele Lichtstrahlen aus dem Spalt für gleichmäßige Gitterbeleuchtung
    Material: Aluminium mit reflektierender Beschichtung
  • Beugungsgitter
    Zerlegt Licht durch Beugung in seine Bestandswellenlängen
    Material: Glas mit geritztem oder holografischem Gitter
  • Fokussierspiegel
    Fokussiert das dispersive Spektrum auf die Detektoranordnung
    Material: Aluminium mit reflektierender Beschichtung
  • Detektor-Array
    Wandelt das dispergierte Spektrum in ein elektrisches Signal um – das Ausgangsende des Spektrometers.

FMEA · Fehleranalyse

Ursache → Fehlermodus → Engineering-Maßnahme

Thermischer Schock mit über 10°C/min Gradient Rissbildung im Beugungsgittersubstrat durch CTE-Mismatch-Spannung Aktive Temperaturstabilisierung mit PID-Regelung (±0,1°C), abgestufte CTE-Haftschichten (3-Schicht-Epoxid-Silikon-Polyimid)
Umgebungsvibration bei 50-200 Hz Resonanzfrequenz Wellenlängenkalibrierungsdrift durch Gitterwinkelverschiebung Kinematische Montage mit 6-DOF-Isolierung (0,5 Hz Eigenfrequenz), Laserinterferometer-Rückkopplung für Echtzeit-Positionskorrektur

Technische Bewertung

Betriebsbereich
Betriebsbereich
200-1100 nm Wellenlängenbereich, 15-35°C Betriebstemperatur, 20-80 % relative Luftfeuchtigkeit
Belastungs- und Ausfallgrenzen
Optische Gitterschäden bei >150 mW/mm² Leistungsdichte, Detektorsättigung bei >85 % Vollausschlag, Wellenlängenkalibrierungsdrift >0,5 nm
Thermischer Ausdehnungskoeffizienten-Mismatch des Beugungsgitters (17 ppm/°C Invar vs. 8 ppm/°C Glassubstrat) verursacht Wellenlängenverschiebung, Dunkelstrom der Photodiode verdoppelt sich alle 10°C Temperaturanstieg (Arrhenius-Gleichung), feuchtigkeitsinduzierte Brechungsindexänderung in optischen Elementen (n=1,0003 bei 0 % r.F. bis n=1,0008 bei 100 % r.F.)
Fertigungskontext
Spektrometer-Einheit wird innerhalb von Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen nach Material, Prozessfenster und Prüfanforderungen bewertet.

Taxonomie und Suchbegriffe

Suchbegriffe, Aliase und technische Bezeichnungen für diesen CNFX Datensatz.

Anwendungen / Eingebaute Systeme

Dieses Teil oder Produkt erscheint in den folgenden Systemen und Maschinen.

Eignung und Auslegungsdaten

Betriebsgrenzen
Betriebsdruck:0,8 bis 1,2 atm (Betrieb), 0,5 bis 1,5 atm (max.)
Weitere Spezifikationen:0-5 L/min (für Spülung/Kühlung)
Betriebstemperatur:-10°C bis 50°C (Betrieb), -20°C bis 70°C (Lagerung)
Montage- und Anwendungskompatibilität
Gasförmige Medien (z.B. saubere Luft, Inertgase)Flüssige Medien (z.B. klare wässrige Lösungen, Lösungsmittel)Feste Proben via Reflexion (z.B. Pulver, Filme)
Nicht geeignet: Hochpartikuläre Suspensionen oder abrasive Medien (verursachen optische Verschmutzung/Streuung)
Auslegungsdaten
  • Erforderlicher Wellenlängenbereich (nm)
  • Benötigte spektrale Auflösung (nm oder cm⁻¹)
  • Optische Weglänge oder Probenschnittstellentyp (Transmission/Reflexion)

Zuverlässigkeits- und Risikoanalyse

Ausfallmodus und Ursache
Degradation optischer Komponenten
Ursache: Kontamination durch Umgebungsstaub, Feuchtigkeitseintritt oder chemische Exposition, die zu Verschmutzung von Linsen/Sensoren, Beschichtungsschäden oder Fehlausrichtung führt und die spektrale Genauigkeit und Empfindlichkeit verringert.
Ausfall des elektronischen Systems
Ursache: Thermische Belastung durch Dauerbetrieb oder unzureichende Belüftung, die zu Überhitzung von Komponenten, Ermüdung von Lötstellen oder Instabilität der Stromversorgung führt und zu fehlerhaften Messwerten oder komplettem Ausfall führt.
Wartungsindikatoren
  • Drift oder Instabilität in Basislinienmesswerten während Kalibrierprüfungen, die auf optische oder elektronische Degradation hinweisen.
  • Ungewöhnliches hörbares Brummen, Klicken oder Lüftergeräusch von der Einheit, was auf ein Kühlsystemversagen oder elektrisches Überschlagen hindeutet.
Technische Hinweise
  • Strikte Umgebungskontrollen implementieren: stabile Temperatur/Feuchtigkeit aufrechterhalten, sauberes/trockenes Spülgas für optische Pfade verwenden und Partikelfilter an den Ansaugöffnungen installieren, um Kontamination zu verhindern.
  • Prädiktive Wartung mit regelmäßiger Thermografie elektronischer Komponenten und geplanter Reinigung optischer Oberflächen nach herstellerspezifischen Verfahren und Materialien etablieren.

Konformität und Fertigungsnormen

Referenznormen
ISO 17025:2017 - Allgemeine Anforderungen an die Kompetenz von Prüf- und KalibrierlaboratorienASTM E1252-98(2021) - Standardverfahren für allgemeine Techniken zur Aufnahme von Infrarotspektren für qualitative AnalysenCE-Kennzeichnung - Konformität mit EU-Richtlinien für elektromagnetische Verträglichkeit und Sicherheit
Fertigungsgenauigkeit
  • Wellenlängengenauigkeit: +/- 0,2 nm
  • Photometrische Linearität: +/- 1 % über den spezifizierten Bereich
Qualitätsprüfung
  • Wellenlängenkalibrierungsverifizierung mit zertifizierten Referenzmaterialien
  • Leistungsverifizierung mit NIST-rückführbaren Standards

Hersteller von Spektrometer-Einheit

Herstellerprofile mit passender Produktionsfähigkeit in China.

Die Herstellerliste dient der Vorrecherche und Einordnung von Fertigungskapazitäten. Sie ist keine Zertifizierung, kein Ranking und keine Transaktionsgarantie.

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Beispielhafte Bewertungskriterien aus Einkaufsprozessen

Keine Kundenbewertung und keine Echtzeitdaten. Die Werte zeigen typische Prüfkriterien in RFQ- und Lieferantenbewertungsprozessen.

Technische Dokumentation
4/5
Fertigungsfähigkeit
4/5
Prüfbarkeit
5/5
Lieferantentransparenz
3/5

Die Kriterien dienen als Orientierung für technische Einkaufsprüfungen. Konkrete Kunden, Länder, Bewertungsdaten oder Live-Nachfragen werden nur angezeigt, wenn entsprechende belastbare Daten vorliegen.

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Häufige Fragen

Was ist der typische Wellenlängenbereich dieser Spektrometer-Einheit?

Der Wellenlängenbereich ist mit 200–1100 nm angegeben und deckt UV-Vis-NIR ab. Erweiterte Bereiche können spezielle Detektoren erfordern. Bestätigen Sie den genauen Bereich für Ihr Modell mit dem Hersteller.

Wie ist die spektrale Auflösung dieser Einheit definiert?

Die spektrale Auflösung ist die Fähigkeit, eng beieinanderliegende Spektrallinien zu unterscheiden, angegeben mit 0,1–2,0 nm. Die tatsächliche Auflösung hängt von Gitter, Spaltbreite und Detektor ab. Verifizieren Sie mit dem Hersteller für Ihre Konfiguration.

Welche Wartung ist für die Spektrometer-Einheit erforderlich?

Eine regelmäßige Kalibrierung mit Referenzlinien ist erforderlich, um die Wellenlängengenauigkeit zu erhalten. Halten Sie die Optik sauber und vermeiden Sie extreme Temperaturen oder Feuchtigkeit. Befolgen Sie die Wartungsrichtlinien des Herstellers.

Kann diese Einheit für quantitative Analysen verwendet werden?

Ja, sie ermöglicht quantitative Analysen durch Messung der Lichtintensität bei bestimmten Wellenlängen. Die photometrische Genauigkeit beträgt ±0,005 AE unter Verwendung NIST-rückführbarer Standards. Stellen Sie eine ordnungsgemäße Kalibrierung und Probenvorbereitung sicher.

Kann ich Hersteller direkt kontaktieren?

CNFX ist ein offenes Verzeichnis, keine Handelsplattform und kein Beschaffungsagent. Herstellerprofile und Formulare helfen bei der Vorbereitung des direkten Kontakts.

CNFX Industrial Index v2.6.09 · Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen

Datenbasis

CNFX-Herstellerprofile, technische Klassifikation, öffentlich verfügbare Produktinformationen und fortlaufende Plausibilitätsprüfung.

Vorläufige technische Einordnung
Diese Seite dient der strukturierten Vorbereitung von Recherche, RFQ und Lieferantenbewertung. Sie ersetzt keine Lieferantenqualifizierung, keine Normenprüfung und keine technische Freigabe durch den Käufer.
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