Strukturierte Fertigungsdaten · 2026

Automatisiertes Testgerät

Auf Basis strukturierter CNFX-Herstellerprofile wird Automatisiertes Testgerät im Bereich Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen anhand von Prüfdurchsatz bis Anzahl der Testkanäle eingeordnet.

Technische Definition und Kernbaugruppe

Ein typisches Automatisiertes Testgerät wird durch die Baugruppe aus Prüfkopf / Steuereinheit und Pin-Elektronik / Treiber-Sensor-Karten beschrieben. Für industrielle Anwendungen werden Materialauswahl, Fertigungsprozess und Prüfbarkeit gemeinsam bewertet.

Computergesteuerte Systeme, die automatisch Tests an elektronischen Bauteilen, Schaltungen oder Baugruppen durchführen, um Funktionalität, Leistung und Qualität zu verifizieren.

Technische Definition

Automatisiertes Testgerät (ATE) bezieht sich auf hochentwickelte, computergesteuerte Systeme, die entwickelt wurden, um automatisch umfassende Testverfahren an elektronischen Bauteilen, Leiterplatten (PCBs), integrierten Schaltungen (ICs) und vollständigen elektronischen Baugruppen durchzuführen. Diese Systeme führen vordefinierte Testsequenzen aus, um elektrische Eigenschaften, funktionale Leistung, Signalintegrität und Einhaltung von Qualitätsstandards ohne manuellen Eingriff zu verifizieren, wodurch der Testdurchsatz, die Genauigkeit und die Wiederholbarkeit in Fertigungsumgebungen erheblich erhöht werden. ATE integriert Hardware-Testinstrumente wie Digitalmultimeter, Oszilloskope, Signalgeneratoren und Netzteile mit einer zentralen Steuerung, typischerweise einem PC oder Industriecomputer, auf dem spezielle Testsoftware läuft. Das zu testende Gerät (DUT) wird über eine Testvorrichtung oder eine Probenstation an das ATE angeschlossen. Die Steuerung führt ein Testprogramm aus, das die Instrumente sequenziert: Es legt Stimuli (z. B. Spannungen, Signale) an das DUT an, misst die Antworten (z. B. Ströme, Wellenformen, digitale Ausgänge), vergleicht die Ergebnisse mit vordefinierten Pass/Fail-Grenzwerten, die in der Software gespeichert sind, und protokolliert die Ergebnisse. Fortschrittliche Systeme können Handler für automatisches Laden/Entladen von Komponenten und Vision-Systeme zur Ausrichtung umfassen. Typische Spezifikationen umfassen Testdurchsatz von 1000–5000 Einheiten pro Stunde, 128–1024 Testkanäle, maximale Testfrequenz von 100–1000 MHz, Messgenauigkeit von ±0,01–±0,1 %, Netzteil-Spannungsbereich von 100–240 V, Betriebstemperaturbereich von 0–50 °C, relative Luftfeuchtigkeit von 20–80 % RH (nicht kondensierend), Schutzart IP20–IP54 nach IEC 60529, Speicherkapazität für Testprogramme von 100–1000 Programmen, Schnittstellenprotokolle wie GPIB, USB und LAN (gemäß IEEE 488, USB 2.0, IEEE 802.3), Gewicht von 50–200 kg und Stellfläche von 600x800x1500 bis 1200x1500x2000 mm. Verwendete Materialien umfassen Aluminiumlegierung für Gehäuse/Rahmen, FR-4 für PCB-Substrate in Vorrichtungen, Kupfer für elektrische Kontakte/Prüfspitzen und Edelstahl für mechanische Teile. Diese Werte sind Referenzbereiche; bestätigen Sie modellspezifische Spezifikationen mit dem Hersteller.

Funktionsprinzip

ATE-Systeme funktionieren, indem sie Hardware-Testinstrumente (wie Digitalmultimeter, Oszilloskope, Signalgeneratoren und Netzteile) mit einer zentralen Steuerung (typischerweise einem PC oder Industriecomputer) integrieren, auf der spezielle Testsoftware läuft. Das zu testende Gerät (DUT) wird über eine Testvorrichtung oder eine Probenstation an das ATE angeschlossen. Die Steuerung führt ein Testprogramm aus, das die Instrumente sequenziert: Es legt Stimuli (z. B. Spannungen, Signale) an das DUT an, misst die Antworten (z. B. Ströme, Wellenformen, digitale Ausgänge), vergleicht die Ergebnisse mit vordefinierten Pass/Fail-Grenzwerten, die in der Software gespeichert sind, und protokolliert die Ergebnisse. Fortschrittliche Systeme können Handler für automatisches Laden/Entladen von Komponenten und Vision-Systeme zur Ausrichtung umfassen.

Technische Parameter

Technische Parameter
ParameterTypischer BereichHinweise & Auswahlkriterien
Prüfdurchsatz1000–5000 Einheiten/StundeMaximale Anzahl von Geräten oder Testzyklen, die das System pro Stunde verarbeiten kann.
Anzahl der Testkanäle128–1024 KanäleGesamtzahl der unabhängigen elektrischen Testpunkte oder Pins, mit denen das System gleichzeitig verbunden werden kann.
Maximale Testfrequenz100–1000 MHzHöchste Signalfrequenz, die das System genau erzeugen oder messen kann.
Messgenauigkeit±0.01–±0.1 %Typische Genauigkeit von Spannungs-, Strom- oder parametrischen Messungen, oft angegeben als Prozentsatz des Messwerts plus Offset.
Versorgungsspannungsbereich100–240 VoltBereich der Gleichspannungen, die die integrierte Stromversorgung dem Prüfling bereitstellen kann.
Betriebstemperaturbereich0–50 °COutside this range, accuracy may degrade.
Relative Luftfeuchtigkeit20–80 % RHNon-condensing; high humidity can cause corrosion.
SchutzartIP20–IP54Higher rating for dusty or wet environments.IEC 60529
Speicherkapazität für Testprogramme100–1000 ProgrammeNumber of test programs that can be stored on the system.
SchnittstellenprotokollGPIB, USB, LANFor remote control and data acquisition.IEEE 488, USB 2.0, IEEE 802.3
Gewicht50–200 kgAffects installation and mobility.
Stellfläche (B x T x H)600x800x1500–1200x1500x2000 mmSpace required for installation and maintenance.

Die Bereiche sind branchenübliche Richtwerte zur Angebotsvorbereitung und keine Zusage des Lieferanten. Bestätigen Sie jeden Wert und jede Norm vor der Bestellung beim rechtlichen Hersteller.

Hauptmaterialien

Aluminiumlegierung (für Gehäuse/Rahmen) FR-4 (für Leiterplattensubstrate in Vorrichtungen) Kupfer (für elektrische Kontakte/Sonden) Edelstahl (für mechanische Teile)

Komponenten / BOM

Components / BOM
  • Prüfkopf / Steuereinheit
    Zentrale Recheneinheit, die die Teststeuerungssoftware ausführt, Testgeräte sequenziert und Messdaten verarbeitet.
    Material: Metallgehäuse mit internen Leiterplatten, Prozessoren und Kühlsystemen.
  • Pin-Elektronik / Treiber-Sensor-Karten
    Elektronische Module, die die elektrische Schnittstelle zum Prüfling bereitstellen und in der Lage sind, Signale zu treiben und Antworten an jedem Testpin zu erfassen.
    Material: Leiterplatten mit integrierten Schaltkreisen, Steckverbindern und passiven Bauelementen.
  • Prüfvorrichtung / Prüflingsschnittstelle
    Mechanische und elektrische Schnittstelle, die den ATE physisch mit dem Prüfling verbindet und für korrekte Ausrichtung und Kontakt sorgt.
    Material: Kundenspezifische Leiterplatte (für Leiterplattentest) oder Sockel/Prüfkarte (für Bauteiltest), häufig mit präzisionsgefertigten Metallteilen.
  • Instrumentierungsmodul (z.B. DMM, Oszilloskop)
    Eingebettete oder modulare Prüfinstrumente (wie Digitalmultimeter, Oszilloskope, Arbiträrsignalgeneratoren) zur Durchführung spezifischer Messungen.
    Material: Elektronische Baugruppen in Metallgehäusen.
  • Handhabungs-/Prüfsystem (für Bauteil ATE)
    Automatisiertes mechanisches System zum Laden, Positionieren und Entladen einzelner Halbleiterbauteile oder Komponenten für Prüfzwecke.
    Material: Mechanische Struktur aus Aluminium und Edelstahl mit Motoren, Riemen und Sensoren.
  • Prüfsoftware
    Hält das Testprogramm und die vordefinierten Bestanden/Nicht bestanden-Grenzwerte, mit denen die Ergebnisse verglichen werden.
  • Bildverarbeitungssysteme
    Richten Sie das Gerät vor dem Kontakt bei den fortschrittlichen Systemen aus.

FMEA · Fehleranalyse

Ursache → Fehlermodus → Engineering-Maßnahme

Elektrostatische Entladung über 2000 V HBM (Human Body Model) Gate-Oxid-Durchbruch in Halbleitertestschnittstellen-ICs ESD-Schutzdioden mit einer Klemmspannung < 15 V und einer Ansprechzeit < 1 ns, die in alle Testpins integriert sind
Mechanische Vibration bei der Resonanzfrequenz von 120-180 Hz Kontaktwiderstandsinstabilität in Pogo-Pin-Testvorrichtungen, die eine Variation von über 50 mΩ überschreitet Antiresonanzbefestigung mit einem Dämpfungskoeffizienten ξ=0,7 und einer Eigenfrequenz, die auf 250 Hz verschoben ist

Technische Bewertung

Betriebsbereich
Betriebsbereich
0-85 °C Umgebungstemperatur, 85-264 VAC Eingangsspannung, 45-65 Hz Netzfrequenz
Belastungs- und Ausfallgrenzen
Umgebungstemperaturen über 85 °C führen dazu, dass die Sperrschichttemperaturen von Halbleitern 125 °C überschreiten, was zu thermischem Durchgehen führt
Arrhenius-Gleichungsgetriebener exponentieller Anstieg der Ausfallrate mit der Temperatur: Ausfallrate ∝ e^(-Ea/kT), wobei Ea=0,7 eV für Siliziumbauteile
Fertigungskontext
Automatisiertes Testgerät wird innerhalb von Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen nach Material, Prozessfenster und Prüfanforderungen bewertet.

Weitere Produktbezeichnungen

ATE Automatic Test System Test Automation Equipment IC Tester Board Test System

Taxonomie und Suchbegriffe

Suchbegriffe, Aliase und technische Bezeichnungen für diesen CNFX Datensatz.

Industrielles Ökosystem und Lieferkette

Eignung und Auslegungsdaten

Betriebsgrenzen
Betriebsdruck:Atmosphärisch (keine Druckregelung erforderlich)
Durchflussrate:Nicht zutreffend
Betriebstemperatur:15 °C bis 35 °C (Betrieb), 0 °C bis 50 °C (Lagerung)
Montage- und Anwendungskompatibilität
Leiterplatten (PCBs)HalbleiterbauteileElektronische Baugruppen
Nicht geeignet: Hochvibrationsindustrielle Umgebungen (z.B. in der Nähe von schweren Maschinen)
Auslegungsdaten
  • Maximale Abmessungen des Prüflings (DUT)
  • Erforderlicher Testdurchsatz (Einheiten/Stunde)
  • Anforderungen an den Testsignal-/Spannungsbereich

Zuverlässigkeits- und Risikoanalyse

Ausfallmodus und Ursache
Sensorabweichung oder Kalibrierungsfehler
Ursache: Umweltverschmutzung, thermische Zyklen oder Alterung elektronischer Bauteile, die zu ungenauen Messungen führen
Mechanischer Aktuator- oder Positioniersystemausfall
Ursache: Verschleiß durch wiederholte Bewegung, Fehlausrichtung oder mangelnde Schmierung in beweglichen Teilen
Wartungsindikatoren
  • Inkonsistente oder unregelmäßige Testergebnisse trotz Kalibrierung
  • Ungewöhnliche Geräusche (Schleifen, Klicken) oder Vibrationen während des Betriebs
Technische Hinweise
  • Implementieren Sie einen strengen vorbeugenden Wartungsplan, der regelmäßige Kalibrierung, Reinigung optischer/Sensorkomponenten und Inspektion mechanischer Baugruppen umfasst
  • Verwenden Sie Umgebungskontrollen (Temperatur, Luftfeuchtigkeit, Staubfilterung) und sorgen Sie für eine ordnungsgemäße Stromversorgungskonditionierung, um empfindliche elektronische Bauteile zu schützen

Konformität und Fertigungsnormen

Referenznormen
ANSI/ISA-88.00.01 - ChargensteuerungCE-Kennzeichnung - EMV-Richtlinie 2014/30/EU
Fertigungsgenauigkeit
  • Positionsgenauigkeit: +/-0,005 mm
  • Wiederholgenauigkeit: +/-0,001 mm
Qualitätsprüfung
  • Kalibrierungsverifikationstest
  • Funktionale Sicherheitsprüfung (IEC 61508)

Hersteller von Automatisiertes Testgerät

1 Unternehmen führen dieses Produkt in ihrem eigenen Sortiment. Die Unternehmensangaben stammen von der jeweils eigenen Website; jede Karte nennt die Grundlage der Zuordnung.

Chroma ATE Inc.
· CN
Fertigt außerdem: Battery Management System (BMS)、Battery Management System、DC Power Supply und 6 weitere
Laut Produktseite der eigenen Website · Profil von CNFX aus öffentlichen Quellen zusammengestellt
Bezeichnung auf der Website: “Automatic Test System (ATS)”
Quellseite ansehen ↗ chromaate.com · geprüft am 2026-09-06

Die Herstellerliste dient der Vorrecherche und Einordnung von Fertigungskapazitäten. Sie ist keine Zertifizierung, kein Ranking und keine Transaktionsgarantie.

Diese Seite teilen

Beispielhafte Bewertungskriterien aus Einkaufsprozessen

Keine Kundenbewertung und keine Echtzeitdaten. Die Werte zeigen typische Prüfkriterien in RFQ- und Lieferantenbewertungsprozessen.

Technische Dokumentation
4/5
Fertigungsfähigkeit
4/5
Prüfbarkeit
5/5
Lieferantentransparenz
3/5

Die Kriterien dienen als Orientierung für technische Einkaufsprüfungen. Konkrete Kunden, Länder, Bewertungsdaten oder Live-Nachfragen werden nur angezeigt, wenn entsprechende belastbare Daten vorliegen.

LieferketteVerwandte Produkte und Komponenten

3D-Kamera-Array

Ein Multikamerasystem, das synchronisierte Bilder aus mehreren Winkeln erfasst, um 3D-Raumdaten zu erzeugen.

Spezifikationen ansehen ->
3D-Optiksensorkopf

Die optische Sensorkomponente eines automatischen Lötpasten-Inspektionssystems (SPI), die 3D-Höhendaten von Lötpastenablagerungen auf Leiterplatten erfasst.

Spezifikationen ansehen ->
A/D-Wandler

Ein A/D-Wandler (Analog-Digital-Wandler) ist ein Bauteil, das in industriellen Steuerungs- und Überwachungssystemen verwendet wird, um kontinuierliche analoge Eingangssignale wie Spannung oder Strom in diskrete digitale Ausgangswerte umzuwandeln.

Spezifikationen ansehen ->
A/D-Wandler

Elektronisches Bauteil, das analoge Signale von Encodern in digitale Signale zur Verarbeitung umwandelt

Spezifikationen ansehen ->

Häufige Fragen

Welche Arten von Geräten können mit ATE getestet werden?

ATE kann elektronische Bauteile wie Widerstände, Kondensatoren und Dioden, integrierte Schaltungen (ICs), Leiterplatten (PCBs) und vollständige elektronische Baugruppen testen. Die spezifischen Testfähigkeiten hängen von der Systemkonfiguration und dem Testprogramm ab.

Wie verbessert ATE die Testeffizienz?

ATE automatisiert den Testprozess, reduziert manuelle Eingriffe und ermöglicht Hochdurchsatz-Tests. Es kann vordefinierte Testsequenzen schnell ausführen, mit typischem Durchsatz von 1000–5000 Einheiten pro Stunde, und liefert konsistente, wiederholbare Ergebnisse.

Welche wichtigen Spezifikationen sind bei der Auswahl von ATE zu beachten?

Wichtige Spezifikationen umfassen Testdurchsatz (Einheiten/Stunde), Anzahl der Testkanäle (128–1024), maximale Testfrequenz (100–1000 MHz), Messgenauigkeit (±0,01–±0,1 %), Netzteil-Spannungsbereich (100–240 V), Betriebstemperaturbereich (0–50 °C), relative Luftfeuchtigkeit (20–80 % RH), Schutzart (IP20–IP54), Speicherkapazität für Testprogramme (100–1000 Programme), Schnittstellenprotokolle (GPIB, USB, LAN), Gewicht und Stellfläche. Bestätigen Sie diese mit dem Hersteller für Ihre spezifische Anwendung.

Welche Wartung ist für ATE-Systeme erforderlich?

Regelmäßige Wartung umfasst Reinigung von Testvorrichtungen und Prüfspitzen, Kalibrierung von Instrumenten, Aktualisierung der Testsoftware und Überprüfung auf Verschleiß mechanischer Teile. Die Umgebungsbedingungen sollten innerhalb der angegebenen Bereiche gehalten werden (Temperatur 0–50 °C, Luftfeuchtigkeit 20–80 % RH nicht kondensierend), um Genauigkeit und Langlebigkeit zu gewährleisten.

Kann ich Hersteller direkt kontaktieren?

CNFX ist ein offenes Verzeichnis, keine Handelsplattform und kein Beschaffungsagent. Herstellerprofile und Formulare helfen bei der Vorbereitung des direkten Kontakts.

CNFX Industrial Index v2.6.09 · Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen

Datenbasis

CNFX-Herstellerprofile, technische Klassifikation, öffentlich verfügbare Produktinformationen und fortlaufende Plausibilitätsprüfung.

Vorläufige technische Einordnung
Diese Seite dient der strukturierten Vorbereitung von Recherche, RFQ und Lieferantenbewertung. Sie ersetzt keine Lieferantenqualifizierung, keine Normenprüfung und keine technische Freigabe durch den Käufer.
Anfrage

Beschaffungsinformationen anfragenfür Automatisiertes Testgerät

Informationen zu Einsatzbereich, Spezifikationsgrenzen, Lieferantentypen und RFQ-Vorbereitung anfragen.

Wohin Ihre Anfrage geht
Direkt an die CNFX-Redaktion — und an den Hersteller, sofern dieses Produkt mit einem bestätigten Profil verknüpft ist. Keine Weitergabe an eine Lieferantenliste.
Ihre Daten bleiben hier
Wir verkaufen oder vermieten keine Anfragedaten und nehmen Sie in keinen Verteiler auf. Nutzung ausschließlich zur Beantwortung dieser Anfrage.
Keine Provision, kein Zwischenhändler
CNFX ist ein Verzeichnis. Wir nehmen keinen Anteil an Aufträgen und verhandeln nicht im Namen eines Lieferanten.
Was wir nicht zusichern
Eine Listung ist keine Empfehlung. Prüfen Sie jeden Lieferanten und jeden Wert vor der Bestellung selbst.

Ihre Geschäftsdaten werden nur zur Bearbeitung dieser Anfrage verwendet.

Vielen Dank. Ihre Anfrage wurde gesendet.
Senden fehlgeschlagen. Bitte erneut versuchen oder schreiben Sie uns an [email protected].

Fertigung für Automatisiertes Testgerät?

Herstellerprofile mit passender Produkt- und Prozesskompetenz vergleichen.

Vorheriges Produkt
Automatisiertes System zum Auftragen von Schutzlacken
Nächstes Produkt
Automatisiertes industrielles Kalibriersystem
AngebotChat