Strukturierte Komponentendaten · 2026

Durchkontaktierte Löcher

Durchkontaktierte Löcher (PTH) sind grundlegende Verbindungsstrukturen in mehrschichtigen Leiterplatten (PCBs), insbesondere in HDI-Substraten.

Technische Definition und Einsatzkontext
Ein typisches Durchkontaktierte Löcher wird in Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen nach Material, Toleranz, Montage- und Anwendungskompatibilität sowie Ausfallrisiko bewertet.

Durchkontaktierte Löcher (PTH) sind grundlegende Verbindungsstrukturen in mehrschichtigen Leiterplatten (PCBs), insbesondere in High-Density-Interconnect-Substraten (HDI). Dabei handelt es sich um präzise gebohrte Löcher, die mehrere PCB-Schichten durchdringen und anschließend einem umfassenden Galvanisierungsprozess unterzogen werden, bei dem Kupfer an den Lochwänden abgeschieden wird, um eine zuverlässige elektrische Verbindung zwischen verschiedenen leitenden Schichten herzustellen. Der Galvanisierungsprozess umfasst typischerweise eine stromlose Kupferabscheidung, gefolgt von einer elektrolytischen Kupferabscheidung, um die erforderliche Dicke und Leitfähigkeit zu erreichen. PTHs ermöglichen eine dreidimensionale Führung elektrischer Signale in komplexen elektronischen Baugruppen und unterstützen die Miniaturisierung und erhöhte Funktionalität moderner elektronischer Geräte. PTHs funktionieren, indem sie leitfähige Pfade durch isolierende PCB-Substratmaterialien schaffen. Nachdem mechanisches oder Laserbohren Löcher durch den PCB-Aufbau erzeugt hat, werden die Lochwände oberflächenvorbereitet und aktiviert. Die stromlose Kupferabscheidung erzeugt eine dünne leitfähige Keimschicht, gefolgt von einer elektrolytischen Kupferabscheidung, die die erforderliche Kupferdicke aufbaut. Dadurch entstehen durchgehende leitfähige Zylinder, die Kupferleiterbahnen auf verschiedenen Schichten verbinden und es ermöglichen, dass elektrische Signale und Strom vertikal durch die PCB-Struktur fließen, während die mechanische Integrität erhalten bleibt.

Komponentenspezifikationen

Definition
Durchkontaktierte Löcher (PTH) sind grundlegende Verbindungsstrukturen in mehrschichtigen Leiterplatten (PCBs), insbesondere in High-Density-Interconnect-Substraten (HDI). Dabei handelt es sich um präzise gebohrte Löcher, die mehrere PCB-Schichten durchdringen und anschließend einem umfassenden Galvanisierungsprozess unterzogen werden, bei dem Kupfer an den Lochwänden abgeschieden wird, um eine zuverlässige elektrische Verbindung zwischen verschiedenen leitenden Schichten herzustellen. Der Galvanisierungsprozess umfasst typischerweise eine stromlose Kupferabscheidung, gefolgt von einer elektrolytischen Kupferabscheidung, um die erforderliche Dicke und Leitfähigkeit zu erreichen. PTHs ermöglichen eine dreidimensionale Führung elektrischer Signale in komplexen elektronischen Baugruppen und unterstützen die Miniaturisierung und erhöhte Funktionalität moderner elektronischer Geräte.

PTHs funktionieren, indem sie leitfähige Pfade durch isolierende PCB-Substratmaterialien schaffen. Nachdem mechanisches oder Laserbohren Löcher durch den PCB-Aufbau erzeugt hat, werden die Lochwände oberflächenvorbereitet und aktiviert. Die stromlose Kupferabscheidung erzeugt eine dünne leitfähige Keimschicht, gefolgt von einer elektrolytischen Kupferabscheidung, die die erforderliche Kupferdicke aufbaut. Dadurch entstehen durchgehende leitfähige Zylinder, die Kupferleiterbahnen auf verschiedenen Schichten verbinden und es ermöglichen, dass elektrische Signale und Strom vertikal durch die PCB-Struktur fließen, während die mechanische Integrität erhalten bleibt.
Funktionsprinzip
PTHs function by creating conductive pathways through insulating PCB substrate materials. After mechanical or laser drilling creates holes through the PCB stack-up, the hole walls undergo surface preparation and activation. Electroless copper deposition establishes a thin conductive seed layer, followed by electrolytic copper plating that builds up the required copper thickness. This creates continuous conductive barrels that connect copper traces on different layers, allowing electrical signals and power to pass vertically through the PCB structure while maintaining mechanical integrity.
Materialien
Primär: Elektrolytkupfer (999 % Reinheit) mit typischer Dicke 25-35 μm. Substrat: FR-4Polyimid oder andere PCB-Dielektrika. Galvanikchemie: Kupfersulfat-basierte Elektrolyte mit proprietären Zusätzen für Streufähigkeit und Gleichmäßigkeit. Barrier-/Keimschicht: Stromloses Kupfer (05-15 μm). Oberflächenfinish-Optionen: HASLENIGTauchsilberOSP oder ENEPIG.
aspect ratio
Up to 10:1
plating voids
<5%
thermal cycling
Passes 1000 cycles (-40°C to +125°C)
copper thickness
25-35 μm
hole diameter range
0.15-0.8 mm
insulation resistance
>10^9 Ω
registration accuracy
±0.05 mm
current carrying capacity
1-3A per hole (depending on diameter)
Normen
IPC-6012IPC-A-600IPC-4552ISO 9001IEC 61189

Branchentaxonomie & Aliasse

Gebräuchliche Handelsnamen, technische Kennungen und Suchbegriffe für Durchkontaktierte Löcher.

Übergeordnete Produkte

Diese Komponente wird in den folgenden Industrieprodukten eingesetzt.

FMEA · Fehleranalyse

Ursache → Fehlermodus → Engineering-Massnahme

Inadequate hole cleaning before plating->Poor copper adhesion and plating voids->Implement optimized desmear and cleaning processes with process controls and regular chemical analysis
Excessive thermal expansion mismatch->Barrel cracking during temperature cycling->Use matched CTE materials, optimize plating thickness, and implement gradual thermal profiles during assembly
Insufficient plating solution agitation->Non-uniform copper deposition and thin spots->Implement proper solution circulation, optimize racking density, and use pulse plating techniques

Industrielles Ökosystem und technische Bewertung

0
Plating voids reducing conductivity
1
Thermal stress cracking
2
Poor hole wall adhesion
3
Drilling smear causing plating defects
4
Barrel cracking during thermal cycling
5
Insufficient copper thickness

Konformität und Prüfung

tolerance
Hole diameter: ±0.05 mm, Position: ±0.075 mm, Copper thickness: +0/-10% of nominal
test method
IPC-TM-650 test methods, cross-section analysis per IPC-6012, thermal stress testing per IPC-TM-650 2.6.8, electrical continuity testing

Hersteller für diese Komponente

Relevante Herstellerprofile aus der CNFX-Komponentenfähigkeitstabelle.

Die Herstellerliste dient der Vorrecherche und Einordnung von Fertigungskapazitäten. Sie ist keine Zertifizierung, kein Ranking und keine Transaktionsgarantie.

Beispielhafte Bewertungskriterien aus Einkaufsprozessen

Keine Kundenbewertung und keine Echtzeitdaten. Die Werte zeigen typische Prüfkriterien in RFQ- und Lieferantenbewertungsprozessen.

Technische Dokumentation
4/5
Fertigungsfähigkeit
4/5
Prüfbarkeit
5/5
Lieferantentransparenz
3/5

Die Kriterien dienen als Orientierung für technische Einkaufsprüfungen. Konkrete Kunden, Länder, Bewertungsdaten oder Live-Nachfragen werden nur angezeigt, wenn entsprechende belastbare Daten vorliegen.

Verwandte Komponenten

Häufige Fragen

What is the difference between PTH and blind/buried vias?

PTHs penetrate through the entire PCB thickness, connecting all layers, while blind vias connect an outer layer to one or more inner layers without going through the entire board, and buried vias connect only inner layers without reaching either surface.

What causes plating voids in PTHs?

Plating voids typically result from inadequate hole cleaning, poor activation, air bubbles trapped during plating, or insufficient throwing power of the plating solution, leading to incomplete copper deposition along the hole walls.

How are PTHs tested for quality?

PTH quality is verified through cross-section microscopy, automated optical inspection (AOI), electrical continuity testing, thermal stress testing, and microsection analysis to check plating thickness, voids, and adhesion.

Kann ich Hersteller direkt kontaktieren?

CNFX ist ein offenes Verzeichnis, keine Handelsplattform und kein Beschaffungsagent. Herstellerprofile und Formulare helfen bei der Vorbereitung des direkten Kontakts.

CNFX Industrial Component Index · Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen

Datenbasis

CNFX-Herstellerprofile, technische Klassifikation, öffentlich verfügbare Produktinformationen und fortlaufende Plausibilitätsprüfung.

Vorläufige technische Einordnung
Diese Seite dient der strukturierten Vorbereitung von Recherche, RFQ und Lieferantenbewertung. Sie ersetzt keine Lieferantenqualifizierung, keine Normenprüfung und keine technische Freigabe durch den Käufer.

Beschaffungsinformationen anfragen für Durchkontaktierte Löcher

Informationen zu Einsatzbereich, Spezifikationsgrenzen, Lieferantentypen und RFQ-Vorbereitung anfragen.

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URN:CNFX:ME:UNIT:PLATED_THROUGH_HOLES