Strukturierte Komponentendaten · 2026

Durchkontaktierte Löcher

Durchkontaktierte Löcher (PTH) sind grundlegende Verbindungsstrukturen in mehrschichtigen Leiterplatten (PCBs), insbesondere in HDI-Substraten.

Technische Definition und Einsatzkontext
Ein typisches Durchkontaktierte Löcher wird in Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen nach Material, Toleranz, Montage- und Anwendungskompatibilität sowie Ausfallrisiko bewertet.

Durchkontaktierte Löcher (PTH) sind grundlegende Verbindungsstrukturen in mehrschichtigen Leiterplatten (PCBs), insbesondere in High-Density-Interconnect-Substraten (HDI). Dabei handelt es sich um präzise gebohrte Löcher, die mehrere PCB-Schichten durchdringen und anschließend einem umfassenden Galvanisierungsprozess unterzogen werden, bei dem Kupfer an den Lochwänden abgeschieden wird, um eine zuverlässige elektrische Verbindung zwischen verschiedenen leitenden Schichten herzustellen. Der Galvanisierungsprozess umfasst typischerweise eine stromlose Kupferabscheidung, gefolgt von einer elektrolytischen Kupferabscheidung, um die erforderliche Dicke und Leitfähigkeit zu erreichen. PTHs ermöglichen eine dreidimensionale Führung elektrischer Signale in komplexen elektronischen Baugruppen und unterstützen die Miniaturisierung und erhöhte Funktionalität moderner elektronischer Geräte. PTHs funktionieren, indem sie leitfähige Pfade durch isolierende PCB-Substratmaterialien schaffen. Nachdem mechanisches oder Laserbohren Löcher durch den PCB-Aufbau erzeugt hat, werden die Lochwände oberflächenvorbereitet und aktiviert. Die stromlose Kupferabscheidung erzeugt eine dünne leitfähige Keimschicht, gefolgt von einer elektrolytischen Kupferabscheidung, die die erforderliche Kupferdicke aufbaut. Dadurch entstehen durchgehende leitfähige Zylinder, die Kupferleiterbahnen auf verschiedenen Schichten verbinden und es ermöglichen, dass elektrische Signale und Strom vertikal durch die PCB-Struktur fließen, während die mechanische Integrität erhalten bleibt.

Komponentenspezifikationen

Definition
Durchkontaktierte Löcher (PTH) sind grundlegende Verbindungsstrukturen in mehrschichtigen Leiterplatten (PCBs), insbesondere in High-Density-Interconnect-Substraten (HDI). Dabei handelt es sich um präzise gebohrte Löcher, die mehrere PCB-Schichten durchdringen und anschließend einem umfassenden Galvanisierungsprozess unterzogen werden, bei dem Kupfer an den Lochwänden abgeschieden wird, um eine zuverlässige elektrische Verbindung zwischen verschiedenen leitenden Schichten herzustellen. Der Galvanisierungsprozess umfasst typischerweise eine stromlose Kupferabscheidung, gefolgt von einer elektrolytischen Kupferabscheidung, um die erforderliche Dicke und Leitfähigkeit zu erreichen. PTHs ermöglichen eine dreidimensionale Führung elektrischer Signale in komplexen elektronischen Baugruppen und unterstützen die Miniaturisierung und erhöhte Funktionalität moderner elektronischer Geräte.

PTHs funktionieren, indem sie leitfähige Pfade durch isolierende PCB-Substratmaterialien schaffen. Nachdem mechanisches oder Laserbohren Löcher durch den PCB-Aufbau erzeugt hat, werden die Lochwände oberflächenvorbereitet und aktiviert. Die stromlose Kupferabscheidung erzeugt eine dünne leitfähige Keimschicht, gefolgt von einer elektrolytischen Kupferabscheidung, die die erforderliche Kupferdicke aufbaut. Dadurch entstehen durchgehende leitfähige Zylinder, die Kupferleiterbahnen auf verschiedenen Schichten verbinden und es ermöglichen, dass elektrische Signale und Strom vertikal durch die PCB-Struktur fließen, während die mechanische Integrität erhalten bleibt.
Funktionsprinzip
Durchkontaktierungen (PTH) funktionieren, indem sie leitfähige Pfade durch isolierende PCB-Substratmaterialien erzeugen. Nach dem mechanischen oder Laserbohren von Löchern durch den PCB-Aufbau werden die Lochwände oberflächenvorbereitet und aktiviert. Chemisches Kupfer erzeugt eine dünne leitfähige Keimschicht, gefolgt von elektrolytischem Kupfer, das die erforderliche Kupferdicke aufbaut. Dies erzeugt durchgehende leitfähige Zylinder, die Kupferbahnen auf verschiedenen Ebenen verbinden und elektrische Signale und Strom vertikal durch die PCB-Struktur leiten, während die mechanische Integrität erhalten bleibt.
Materialien
Primär: Elektrolytkupfer (999 % Reinheit) mit typischer Dicke 25-35 μm. Substrat: FR-4Polyimid oder andere PCB-Dielektrika. Galvanikchemie: Kupfersulfat-basierte Elektrolyte mit proprietären Zusätzen für Streufähigkeit und Gleichmäßigkeit. Barrier-/Keimschicht: Stromloses Kupfer (05-15 μm). Oberflächenfinish-Optionen: HASLENIGTauchsilberOSP oder ENEPIG.
Aspektverhältnis
Up to 10:1
Beschichtungslunker
<5%
Temperaturwechsel
Passes 1000 cycles (-40°C to +125°C)
Kupferdicke
25-35 μm
Lochdurchmesserbereich
0.15-0.8 mm
Isolationswiderstand
>10^9 Ω
Registriergenauigkeit
±0.05 mm
Stromtragfähigkeit
1-3A per hole (depending on diameter)
Normen
IPC-6012IPC-A-600IPC-4552ISO 9001IEC 61189

Branchentaxonomie & Aliasse

Gebräuchliche Handelsnamen, technische Kennungen und Suchbegriffe für Durchkontaktierte Löcher.

Übergeordnete Produkte

Diese Komponente wird in den folgenden Industrieprodukten eingesetzt.

FMEA · Fehleranalyse

Ursache → Fehlermodus → Engineering-Massnahme

Unzureichende Reinigung der Löcher vor der Beschichtung->Schlechte Kupferhaftung und Beschichtungslunker->Optimierte Desmear- und Reinigungsprozesse mit Prozesskontrollen und regelmäßiger chemischer Analyse implementieren
Übermäßige thermische Ausdehnungsdifferenz->Fassrisse bei Temperaturwechsel->Materialien mit angepasstem CTE verwenden, Beschichtungsdicke optimieren und allmähliche Temperaturprofile während der Montage implementieren
Unzureichende Rührung der Beschichtungslösung->Ungleichmäßige Kupferabscheidung und dünne Stellen->Richtige Lösungszirkulation implementieren, Gestelldichte optimieren und Pulsbeschichtungstechniken verwenden

Industrielles Ökosystem und technische Bewertung

Montage- und Anwendungskompatibilität
Diese Durchkontaktierung ist kompatibel mit HDI-Leiterplattenfertigungslinien und SMT-Bestückungssystemen sowie mit automatischer optischer Inspektion und elektrischen Testvorrichtungen. Vor der Bestellung sollten Sie Lochdurchmesser, Kupferdicke und Aspektverhältnis gemäß Ihren Designspezifikationen prüfen.
Engineering-Risiken
  • Beschichtungslunker reduzieren die Leitfähigkeit
  • Thermospannungsrisse
  • Schlechte Haftung an der Lochwand
  • Bohrschmiere verursacht Beschichtungsfehler
  • Fassrisse bei Temperaturwechsel
  • Unzureichende Kupferdicke

Konformität und Prüfung

Toleranz
Lochdurchmesser: ±0.05 mm, Position: ±0.075 mm, Kupferdicke: +0/-10% des Nennwerts
Prüfverfahren
IPC-TM-650 Prüfmethoden, Querschnittsanalyse nach IPC-6012, Thermoschockprüfung nach IPC-TM-650 2.6.8, elektrische Durchgangsprüfung

Hersteller für diese Komponente

Relevante Herstellerprofile aus der CNFX-Komponentenfähigkeitstabelle.

Die Herstellerliste dient der Vorrecherche und Einordnung von Fertigungskapazitäten. Sie ist keine Zertifizierung, kein Ranking und keine Transaktionsgarantie.

Beispielhafte Bewertungskriterien aus Einkaufsprozessen

Keine Kundenbewertung und keine Echtzeitdaten. Die Werte zeigen typische Prüfkriterien in RFQ- und Lieferantenbewertungsprozessen.

Technische Dokumentation
4/5
Fertigungsfähigkeit
4/5
Prüfbarkeit
5/5
Lieferantentransparenz
3/5

Die Kriterien dienen als Orientierung für technische Einkaufsprüfungen. Konkrete Kunden, Länder, Bewertungsdaten oder Live-Nachfragen werden nur angezeigt, wenn entsprechende belastbare Daten vorliegen.

Verwandte Komponenten

Häufige Fragen

Was ist der Unterschied zwischen PTH und Blind-/Buried Vias?

PTHs durchdringen die gesamte PCB-Dicke und verbinden alle Schichten, während Blind Vias eine äußere Schicht mit einer oder mehreren inneren Schichten verbinden, ohne die gesamte Platine zu durchdringen, und Buried Vias nur innere Schichten verbinden, ohne eine Oberfläche zu erreichen.

Was verursacht Beschichtungslunker in PTHs?

Beschichtungslunker entstehen typischerweise durch unzureichende Reinigung der Löcher, schlechte Aktivierung, eingeschlossene Luftblasen während der Beschichtung oder unzureichende Streufähigkeit der Beschichtungslösung, was zu unvollständiger Kupferabscheidung an den Lochwänden führt.

Wie werden PTHs auf Qualität geprüft?

Die PTH-Qualität wird durch Querschnittsmikroskopie, automatisierte optische Inspektion (AOI), elektrische Durchgangsprüfung, Thermoschockprüfung und Mikroschnittanalyse verifiziert, um Beschichtungsdicke, Lunker und Haftung zu prüfen.

Kann ich Hersteller direkt kontaktieren?

CNFX ist ein offenes Verzeichnis, keine Handelsplattform und kein Beschaffungsagent. Herstellerprofile und Formulare helfen bei der Vorbereitung des direkten Kontakts.

CNFX Industrial Component Index · Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen

Datenbasis

CNFX-Herstellerprofile, technische Klassifikation, öffentlich verfügbare Produktinformationen und fortlaufende Plausibilitätsprüfung.

Vorläufige technische Einordnung
Diese Seite dient der strukturierten Vorbereitung von Recherche, RFQ und Lieferantenbewertung. Sie ersetzt keine Lieferantenqualifizierung, keine Normenprüfung und keine technische Freigabe durch den Käufer.

Beschaffungsinformationen anfragen für Durchkontaktierte Löcher

Informationen zu Einsatzbereich, Spezifikationsgrenzen, Lieferantentypen und RFQ-Vorbereitung anfragen.

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