Strukturierte Komponentendaten · 2026

Contact Probe

A precision contact probe used in coordinate measuring machines (CMMs) for dimensional inspection and quality control in manufacturing.

Technische Definition und Einsatzkontext
Ein typisches Contact Probe wird in Maschinen- und Anlagenbau nach Material, Toleranz, Montage- und Anwendungskompatibilität sowie Ausfallrisiko bewertet.

A contact probe is a precision measurement component in coordinate measuring machines (CMMs) that physically touches the workpiece surface to collect dimensional data points. It consists of a stylus with a spherical tip, a probe head with deflection sensors, and a mounting interface. When the stylus contacts the workpiece, the probe detects deflection and triggers a measurement signal, recording the exact position in three-dimensional space for geometric dimensioning and tolerancing (GD&T) analysis.

Komponentenspezifikationen

Definition
A contact probe is a precision measurement component in coordinate measuring machines (CMMs) that physically touches the workpiece surface to collect dimensional data points. It consists of a stylus with a spherical tip, a probe head with deflection sensors, and a mounting interface. When the stylus contacts the workpiece, the probe detects deflection and triggers a measurement signal, recording the exact position in three-dimensional space for geometric dimensioning and tolerancing (GD&T) analysis.
Funktionsprinzip
The contact probe operates on tactile sensing principles. When the stylus tip contacts a workpiece surface, it deflects slightly, triggering sensors (typically strain gauges or optical sensors) in the probe head. This deflection generates an electrical signal that indicates contact has been made. The CMM's controller records the machine's position at that moment, creating a precise 3D coordinate point. The probe can perform single-point measurements or scanning motions along surfaces.
Materialien
Stylus: Tungsten carbide or ceramic shaft with ruby (synthetic sapphire) spherical tip (typically 0.3mm to 8mm diameter). Probe body: Aluminum alloy or stainless steel with hardened steel components. Internal sensors: Strain gauges or optical elements with electronic circuits.
Repeatability
0.1μm to 0.5μm
Trigger Force
0.1N to 1.0N
Stylus Tip Diameter
0.3mm to 8mm
Connection Interface
M2, M3, or proprietary mounting systems
Einsatztemperatur
15°C to 30°C
Maximum Approach Speed
10mm/s to 50mm/s
Maximum Permissible Error (MPE)
±0.5μm to ±2.5μm
Normen
ISO 10360ISO 15530DIN 32876VDI/VDE 2617

Branchentaxonomie & Aliasse

Gebräuchliche Handelsnamen, technische Kennungen und Suchbegriffe für Contact Probe.

Uebergeordnete Produkte

Diese Komponente wird in den folgenden Industrieprodukten eingesetzt.

FMEA · Fehleranalyse

Ursache → Fehlermodus → Engineering-Massnahme

Excessive approach speed or incorrect programming->Probe collision damaging stylus or internal components->Implement speed limits in CMM software, use protective covers, and conduct operator training on safe probing practices
Accumulation of contaminants on stylus tip->Measurement errors due to false triggering or offset->Regular cleaning with approved solvents, maintain clean measurement environment, implement daily verification procedures
Thermal expansion from temperature fluctuations->Dimensional measurement drift exceeding tolerance->Maintain stable temperature environment (20°C ±1°C), allow thermal stabilization time, use temperature compensation in CMM software

Industrielles Ökosystem und technische Bewertung

0
Stylus wear affecting measurement accuracy
1
Probe damage from collision or excessive force
2
Temperature variations causing thermal expansion errors
3
Contamination (dust, oil) on stylus tip
4
Electrical interference affecting signal transmission

Konformität und Prüfung

tolerance
Maximum Permissible Error (MPE) as per ISO 10360-2: Typically ±(1.0 + L/350) μm where L is measurement length in mm
test method
Performance verification using reference artifacts (spheres, gauge blocks) according to ISO 10360 series standards. Daily calibration using master sphere with form error <0.1μm.

Hersteller für diese Komponente

Relevante Herstellerprofile aus der CNFX-Komponentenfähigkeitstabelle.

Die Herstellerliste dient der Vorrecherche und Einordnung von Fertigungskapazitäten. Sie ist keine Zertifizierung, kein Ranking und keine Transaktionsgarantie.

Beispielhafte Bewertungskriterien aus Einkaufsprozessen

Keine Kundenbewertung und keine Echtzeitdaten. Die Werte zeigen typische Prüfkriterien in RFQ- und Lieferantenbewertungsprozessen.

Technische Dokumentation
4/5
Fertigungsfähigkeit
4/5
Prüfbarkeit
5/5
Lieferantentransparenz
3/5

Die Kriterien dienen als Orientierung für technische Einkaufsprüfungen. Konkrete Kunden, Länder, Bewertungsdaten oder Live-Nachfragen werden nur angezeigt, wenn entsprechende belastbare Daten vorliegen.

Verwandte Komponenten

Haeufige Fragen

What is the difference between a contact probe and a non-contact probe?

Contact probes physically touch the workpiece with a stylus, providing high accuracy for hard materials with defined surfaces. Non-contact probes (like laser or vision systems) measure without physical contact, suitable for delicate or soft materials but may have different accuracy characteristics.

How often should contact probes be calibrated?

Contact probes should be calibrated daily or before critical measurements using a reference sphere. Full performance verification should follow manufacturer recommendations, typically every 6-12 months or according to ISO 10360 standards.

Can contact probes measure soft or delicate materials?

Yes, with appropriate selection. Low-force probes (0.1N-0.3N) with larger tip diameters can minimize surface deformation. For very delicate materials, non-contact methods might be preferable to avoid any marking or damage.

Kann ich Hersteller direkt kontaktieren?

CNFX ist ein offenes Verzeichnis, keine Handelsplattform und kein Beschaffungsagent. Herstellerprofile und Formulare helfen bei der Vorbereitung des direkten Kontakts.

CNFX Industrial Component Index · Maschinen- und Anlagenbau

Datenbasis

CNFX-Herstellerprofile, technische Klassifikation, öffentlich verfügbare Produktinformationen und fortlaufende Plausibilitätsprüfung.

Vorläufige technische Einordnung
Diese Seite dient der strukturierten Vorbereitung von Recherche, RFQ und Lieferantenbewertung. Sie ersetzt keine Lieferantenqualifizierung, keine Normenprüfung und keine technische Freigabe durch den Käufer.

Beschaffungsinformationen anfragen für Contact Probe

Informationen zu Einsatzbereich, Spezifikationsgrenzen, Lieferantentypen und RFQ-Vorbereitung anfragen.

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Vielen Dank. Ihre Anfrage wurde empfangen.

Fertigung für Contact Probe?

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Herstellerprofil anlegen Kontakt
Vorherige Komponente
接触垫/接触靴
Naechste Komponente
接触式载具
URN:CNFX:ME:UNIT:CONTACT_PROBE