Auf Basis strukturierter CNFX-Herstellerprofile wird Testsockel mit Buchse im Bereich Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen anhand von Kontaktwiderstand bis Isolationswiderstand eingeordnet.
Ein typisches Testsockel mit Buchse wird durch die Baugruppe aus Prüfsockel und Sockeladapterplatine/Schnittstellenplatine beschrieben. Für industrielle Anwendungen werden Materialauswahl, Fertigungsprozess und Prüfbarkeit gemeinsam bewertet.
Eine Komponente eines Halbleiter-Testhandlers, die die physische Schnittstelle zum Testen integrierter Schaltkreise bereitstellt.
Der Handler positioniert ein Halbleiterbauelement (DUT) auf der Buchse innerhalb des Testsockels. Die Kontakte der Buchse (z. B. Pogo-Pins, Federn) stellen eine zuverlässige elektrische Verbindung mit den Anschlüssen des DUT her. Testsignale vom automatischen Testgerät (ATE) werden über die Schnittstellenplatine des Handlers zu den Buchsenkontakten geleitet, an das DUT angelegt, und die Ausgangssignale des DUT werden gemessen und zur Analyse an das ATE zurückgeleitet, um den Pass/Fail-Status zu bestimmen. Die Kontaktkraft pro Pin wird innerhalb des spezifizierten Bereichs gehalten, um einen zuverlässigen Kontakt ohne Beschädigung der Geräteanschlüsse zu gewährleisten. Die Isolations- und Dielektrikumseigenschaften der Buchse verhindern elektrische Leckagen und Durchschläge während des Tests. Die Ausrichtungs- und Betätigungsmechanismen des Testsockels gewährleisten eine genaue Platzierung und einen konsistenten Kontaktdruck über alle Pins des DUT. Die Lebensdauer der Buchse ist ein Schlüsselfaktor für die Wartungsplanung, da Verschleiß den Kontaktwiderstand erhöhen und die Testzuverlässigkeit beeinträchtigen kann.
| Parameter | Typischer Bereich | Hinweise & Auswahlkriterien |
|---|---|---|
| Kontaktwiderstand | ≤50 mΩ | Initial resistance at 10 mA; critical for signal integrity. |
| Isolationswiderstand | ≥1000 MΩ | Measured at 500 V DC between adjacent contacts. |
| Durchschlagspannung | 500 V AC | No breakdown or flashover for 1 minute. |
| Betriebstemperaturbereich | -40–125 °C | Continuous operation; beyond this may affect contact force. |
| Kontaktkraft pro Pin | 0.5–1.5 N | Ensures reliable contact without damaging device leads. |
| Lebensdauer (Zyklen) | 500000 Zyklen | Minimum mechanical cycles before contact resistance exceeds spec. |
| Gehäusematerial | PPS | High-temperature thermoplastic; flame retardant.UL 94 V-0 |
| Kontaktmaterial | BeCu | Beryllium copper for high conductivity and fatigue resistance.ASTM B194 |
| Kontaktbeschichtung | Au 0.76 μm | Gold over nickel; ensures low contact resistance.ASTM B488 |
| Socketgröße (Rastermaß) | 0.5–1.27 mm | Pitch range for standard IC packages. |
| Pin Anzahl | 8–256 Pins | Configurable based on device package. |
| Gewicht | 10–50 g | Depends on pin count and body size. |
Die Bereiche sind branchenübliche Richtwerte zur Angebotsvorbereitung und keine Zusage des Lieferanten. Bestätigen Sie jeden Wert und jede Norm vor der Bestellung beim rechtlichen Hersteller.
Ursache → Fehlermodus → Engineering-Maßnahme
Suchbegriffe, Aliase und technische Bezeichnungen für diesen CNFX Datensatz.
Dieses Teil oder Produkt erscheint in den folgenden Systemen und Maschinen.
| Betriebsdruck: | 0 bis 100 psi |
| Weitere Spezifikationen: | Kontaktkraft: 10-200 g je Pin, Steckzyklen: >1 Mio. |
| Betriebstemperatur: | -40 °C bis +125 °C |
Herstellerprofile mit passender Produktionsfähigkeit in China.
Die Herstellerliste dient der Vorrecherche und Einordnung von Fertigungskapazitäten. Sie ist keine Zertifizierung, kein Ranking und keine Transaktionsgarantie.
Keine Kundenbewertung und keine Echtzeitdaten. Die Werte zeigen typische Prüfkriterien in RFQ- und Lieferantenbewertungsprozessen.
Die Kriterien dienen als Orientierung für technische Einkaufsprüfungen. Konkrete Kunden, Länder, Bewertungsdaten oder Live-Nachfragen werden nur angezeigt, wenn entsprechende belastbare Daten vorliegen.
Der Testsockel mit Buchse bietet die mechanische und elektrische Schnittstelle zwischen dem Handler und dem zu testenden Bauelement (DUT). Er hält die Buchse, die die Pins des DUT kontaktiert, sodass Testsignale angelegt und Antworten gemessen werden können.
Typische Spezifikationen umfassen Kontaktwiderstand ≤50 mΩ bei 10 mA, Isolationswiderstand ≥1000 MΩ bei 500 V DC und dielektrische Spannungsfestigkeit von 500 V AC für 1 Minute. Dies sind Referenzwerte; bestätigen Sie mit dem Hersteller für Ihr spezifisches Modell.
Die Buchsenkontakte bestehen oft aus Berylliumkupfer (BeCu) mit einer Beschichtung aus Gold über Nickel. Der Buchsenkörper ist typischerweise ein hochtemperaturbeständiger Thermoplast wie PPS. Der Rahmen kann aus Edelstahl bestehen. Diese Materialien gewährleisten Leitfähigkeit, Haltbarkeit und Isolierung.
Der Testsockel gewährleistet eine konsistente Kontaktkraft und Ausrichtung, die für zuverlässige elektrische Verbindungen entscheidend sind. Mit der Zeit kann Kontaktverschleiß den Widerstand erhöhen, daher ist die Lebensdauer (500.000 Zyklen) ein Wartungsindikator. Regelmäßige Inspektion und Austausch werden empfohlen.
CNFX ist ein offenes Verzeichnis, keine Handelsplattform und kein Beschaffungsagent. Herstellerprofile und Formulare helfen bei der Vorbereitung des direkten Kontakts.
CNFX-Herstellerprofile, technische Klassifikation, öffentlich verfügbare Produktinformationen und fortlaufende Plausibilitätsprüfung.
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