Strukturierte Fertigungsdaten · 2026

Prüfstelle mit Kontaktbuchse

Auf Basis strukturierter CNFX-Herstellerprofile wird Prüfstelle mit Kontaktbuchse im Bereich Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen anhand von Standardkonfiguration bis Schwerlastanforderung eingeordnet.

Technische Definition und Kernbaugruppe

Ein typisches Prüfstelle mit Kontaktbuchse wird durch die Baugruppe aus Prüfsockel und Sockeladapterplatine/Schnittstellenplatine beschrieben. Für industrielle Anwendungen werden Materialauswahl, Fertigungsprozess und Prüfbarkeit gemeinsam bewertet.

Eine Komponente eines Halbleiter-Prüfhandlers, die die physikalische Schnittstelle für die Prüfung integrierter Schaltkreise bereitstellt.

Technische Definition

Die Prüfstelle mit Kontaktbuchse ist eine kritische Komponente innerhalb eines Halbleiter-Prüfhandlersystems, die als präzise mechanische und elektrische Schnittstelle zwischen dem automatisierten Handler und dem zu prüfenden Halbleiterbauelement (Device Under Test, DUT) dient. Sie beherbergt die Prüf-Kontaktbuchse, die direkten Kontakt mit den Pins oder Pads des DUT herstellt und so die Anwendung von Prüfsignalen und die Messung von Antworten während funktionaler, parametrischer oder Burn-in-Tests ermöglicht.

Funktionsprinzip

Der Handler positioniert ein Halbleiterbauelement (DUT) auf der Kontaktbuchse innerhalb der Prüfstelle. Die Kontakte der Buchse (z.B. Federkontaktstifte, Federn) stellen eine zuverlässige elektrische Verbindung mit den Anschlüssen des DUT her. Prüfsignale von der automatisierten Testausrüstung (ATE) werden über die Schnittstellenplatine des Handlers zu den Buchsenkontakten geleitet, auf das DUT angewendet, und die Ausgangssignale des DUT werden gemessen und zur Analyse an die ATE zurückgeführt, um den Pass/Fail-Status zu bestimmen.

Hauptmaterialien

Phosphorbronze (Buchsenkontakte) PEEK oder Vespel (Buchsenisolator/-gehäuse) Edelstahl (Rahmen-/Betätigungskomponenten)

Komponenten / BOM

Bietet die präzise elektrische Schnittstelle und mechanische Ausrichtung für das zu prüfende Halbleiterbauelement (DUT).
Material: Phosphorbronze, PEEK, Edelstahl
Montiert den Sockel und ermöglicht die elektrische Verdrahtung zwischen den Sockelkontakten und der Hauptschnittstellenplatine des Handlers.
Material: FR4, Keramik
Hält die Sockelbaugruppe und kann Mechanismen zur Sockelbetätigung (Öffnen/Schließen) oder zum Einlegen/Auswerfen von Geräten enthalten.
Material: Aluminium, Edelstahl

FMEA · Fehleranalyse

Ursache → Fehlermodus → Engineering-Maßnahme

Elektromigration bei Stromdichten über 1×10^6 A/cm² Kontaktpad-Delamination und Leiterunterbrechung Implementierung redundanter Kontaktpfade und Begrenzung der Stromdichte auf 5×10^5 A/cm²
Thermische Ausdehnungsdifferenz zwischen Buchse (CTE 17×10^-6/K) und Leiterplatte (CTE 14×10^-6/K) Mechanische Spannungsakkumulation führt zu Kontaktfederermüdungsbruch Auslegung mit nachgiebiger Kontaktgeometrie und thermischen Spannungsentlastungsstrukturen

Technische Bewertung

Betriebsbereich
Betriebsbereich
0-150°C Temperatur, 0-5,5V Kontaktspannung, 0-2N Kontaktkraft
Belastungs- und Ausfallgrenzen
Kontaktwiderstand über 100mΩ, Kontaktkraft unter 0,5N, Temperatur über 175°C
Kontaktoxidation bei erhöhten Temperaturen (Arrhenius-Gleichung: k = A·e^(-Ea/RT)), mechanischer Verschleiß durch wiederholte Einsteckzyklen (Archard'sches Verschleißgesetz: V = K·W·L/H)
Fertigungskontext
Prüfstelle mit Kontaktbuchse wird innerhalb von Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen nach Material, Prozessfenster und Prüfanforderungen bewertet.

Weitere Produktbezeichnungen

Test Socket Site DUT Socket Station

Taxonomie und Suchbegriffe

Suchbegriffe, Aliase und technische Bezeichnungen für diesen CNFX Datensatz.

Anwendungen / Eingebaute Systeme

Dieses Teil oder Produkt erscheint in den folgenden Systemen und Maschinen.

Eignung und Auslegungsdaten

Betriebsgrenzen
Traglast:
Verstellbereich / Reichweite:
Einsatztemperatur:
Montage- und Anwendungskompatibilität

Zuverlässigkeits- und Risikoanalyse

Technische Hinweise
failure modes
mitigation tips
maintenance signals

Compliance & Manufacturing Standards

Reference Standards
ISO 9001:2015 - QualitätsmanagementsystemeANSI/UL 498 - Sicherheitsnorm für Stecker und SteckdosenDIN 49440-1 - Stecker, Steckdosen und Kupplungen für industrielle Zwecke
Manufacturing Precision
  • Buchsenbohrungsdurchmesser: +/-0,05mm
  • Kontaktplanheit: 0,1mm maximale Abweichung
Quality Inspection
  • Prüfung der elektrischen Kontinuität und des Isolationswiderstands
  • Dimensionsprüfung mit Koordinatenmessgerät (KMG)

Hersteller, die dieses Produkt fertigen

Herstellerprofile mit passender Produktionsfähigkeit in China.

Die Herstellerliste dient der Vorrecherche und Einordnung von Fertigungskapazitäten. Sie ist keine Zertifizierung, kein Ranking und keine Transaktionsgarantie.

Beispielhafte Bewertungskriterien aus Einkaufsprozessen

Keine Kundenbewertung und keine Echtzeitdaten. Die Werte zeigen typische Prüfkriterien in RFQ- und Lieferantenbewertungsprozessen.

Technische Dokumentation
4/5
Fertigungsfähigkeit
4/5
Prüfbarkeit
5/5
Lieferantentransparenz
3/5

Die Kriterien dienen als Orientierung für technische Einkaufsprüfungen. Konkrete Kunden, Länder, Bewertungsdaten oder Live-Nachfragen werden nur angezeigt, wenn entsprechende belastbare Daten vorliegen.

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Häufige Fragen

What materials are used in the test site socket contacts and why?

The socket contacts are made from phosphor bronze for its excellent spring properties, conductivity, and durability, ensuring reliable electrical connections during repeated IC testing cycles.

What are the advantages of using PEEK or Vespel for the socket housing?

PEEK and Vespel offer high temperature resistance, excellent electrical insulation, and dimensional stability, making them ideal for maintaining precise alignment and preventing electrical leakage in test environments.

How does the test site with socket integrate with semiconductor test handlers?

The test site mounts to the handler's actuation mechanism via the stainless steel frame, while the socket adapter plate interfaces with test electronics, creating a complete physical and electrical pathway for IC testing.

Kann ich Hersteller direkt kontaktieren?

CNFX ist ein offenes Verzeichnis, keine Handelsplattform und kein Beschaffungsagent. Herstellerprofile und Formulare helfen bei der Vorbereitung des direkten Kontakts.

CNFX Industrial Index v2.6.05 · Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen

Datenbasis

CNFX-Herstellerprofile, technische Klassifikation, öffentlich verfügbare Produktinformationen und fortlaufende Plausibilitätsprüfung.

Vorläufige technische Einordnung
Diese Seite dient der strukturierten Vorbereitung von Recherche, RFQ und Lieferantenbewertung. Sie ersetzt keine Lieferantenqualifizierung, keine Normenprüfung und keine technische Freigabe durch den Käufer.

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