Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen

Alle Produkte und Kapazitäten in der Branche Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen – derzeit 2090 Einträge.

Tastenfeld-Baugruppe
Eine taktile Schnittstellenkomponente für ein Enterprise-VoIP-Telefon, die die Eingabe von Zahlen, Buchstaben und Befehlen ermöglicht.
Tastenmatrix
Eine gitterbasierte elektrische Schaltungsanordnung, die ein effizientes Scannen und Erkennen mehrerer Tastendrücke mit minimaler Verkabelung ermöglicht.
Tastköpfe
Elektrische Schnittstelle, die das Oszilloskop mit der zu testenden Schaltung verbindet.
Telekommunikationsausrüstung
Geräte und Systeme zur Übertragung, zum Empfang und zur Verarbeitung von Informationen über Entfernungen auf elektronischem Wege.
Telemetrie-Schnittstelle
Eine spezialisierte Schnittstellenkomponente in einer elektronischen Kartusche, die die Übertragung von Messdaten von Sensoren an externe Überwachungssysteme ermöglicht.
Temperaturerfassungsschnittstelle
Schnittstellenkomponente, die Temperatursensoren mit Kompensationsverstärkernetzwerken verbindet, für Signalaufbereitung und -verarbeitung.
Temperaturkompensationsmodul
Elektronische Schaltung, die den Sensorausgang anpasst, um temperaturabedingte Messfehler zu korrigieren
Temperaturkompensationsschaltung
Eine Schaltung, die die stabile Leistung eines Oszillators oder Verstärkers aufrechterhält, indem sie die Auswirkungen von Temperaturschwankungen auf seine elektrischen Eigenschaften ausgleicht.
Temperaturregelelement
Eine Komponente in einer optischen Kammer, die die Innentemperatur auf einen präzisen Sollwert regelt und hält.
Temperatursensor-Sonde
Ein Sensorelement, das direkt die Temperatur misst und in ein elektrisches Signal für Überwachungssysteme umwandelt.
Test Signal Generator
Der Test Signal Generator ist ein spezielles elektronisches Bauteil, das für den Einsatz im Health Check Module entwickelt wurde.
Test- und Messgeräte
Elektronische Instrumente zur Messung, Analyse und Verifizierung elektrischer Signale, physikalischer Eigenschaften und Systemleistung in technischen und Fertigungsanwendungen.
Test-Interface-Einheit
Eine kritische Komponente eines Wafer-Probers, die die elektrische und mechanische Schnittstelle zwischen der Testelektronik des Probers und dem zu testenden Halbleiterwafer bereitstellt.
Test-Interface-Panel
Ein spezielles Steuer- und Verbindungs-Interface-Panel, das in einer integrierten Funktionsteststation verwendet wird, um Testabläufe zu ermöglichen.
Testkopf / Controller
Schnittstellen- und Steuereinheit für automatisierte Testausrüstung, die Testinstrumente mit Prüflingen verbindet
Testplatten-Schnittstelle
Schnittstellenkomponente, die Testgeräte mit Prüflingsplatten (DUT) in Burn-in-Testsystemen verbindet
Testprüfspitzen-Halterung
Eine spezielle Halterung, die Prüfspitzen für elektrische Messungen sicher in einer Testkammer hält und positioniert.
Testsockel
Eine Präzisions-Schnittstellenkomponente in automatisierten Test-Handlern, die die elektrische und mechanische Verbindung zwischen Testgeräten und zu testenden Halbleiterbauelementen herstellt.
Testsockel mit Buchse
Eine Komponente eines Halbleiter-Testhandlers, die die physische Schnittstelle zum Testen integrierter Schaltkreise bereitstellt.
Testsockel/Kontaktschnittstelle
Eine kritische Schnittstellenkomponente in automatisierten Testgeräten (ATE), die die elektrische und mechanische Verbindung zwischen dem Prüfling (DUT) und dem Testsystem herstellt.
Testsonde-Array
Eine strukturierte Anordnung von elektrischen Testspitzen, die für den gleichzeitigen Kontakt mit mehreren Testpunkten auf elektronischen Geräten oder Bauteilen ausgelegt ist.
Testsonde-Baugruppe
Eine Präzisionsbaugruppe aus elektrischen Sonden zur temporären elektrischen Verbindung mit Testpunkten an elektronischen Geräten oder Schaltungen.
Testvorrichtung / DUT-Schnittstelle
Physische und elektrische Schnittstellenkomponente, die das Prüfobjekt (DUT) mit automatisierten Testgeräten für Funktions- und Parametertests verbindet.
Testvorrichtungsschnittstelle
Schnittstellenkomponente, die das zu testende Motherboard mit den Steuer- und Messsystemen des Burn-In-Testers verbindet
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