Herstellung von Computern, elektronischen und optischen Erzeugnissen

Eine spezialisierte Schnittstellenkomponente innerhalb eines elektronischen Kartuschenmoduls, die die Übertragung von Messdaten von Sensoren zu externen Überwachungssystemen ermöglicht.

Ein Fühler, der direkt die Temperatur misst und sie in ein elektrisches Signal für Überwachungssysteme umwandelt.

Elektronische Schaltung, die den Sensorausgang anpasst, um temperaturbedingte Messfehler zu korrigieren

Eine Schaltung, die entwickelt wurde, um die stabile Leistung eines Oszillators oder Verstärkers aufrechtzuerhalten, indem sie den Einfluss von Temperaturschwankungen auf seine elektrischen Eigenschaften ausgleicht.

Schnittstellenkomponente, die Temperatursensoren mit Kompensationsverstärker-Netzwerken zur Signalaufbereitung und -verarbeitung verbindet.

Eine geregelte Umgebungskammer, die verwendet wird, um elektronische Bauteile unter definierten Temperaturbedingungen während des Burn-in-Tests zu prüfen.

Eine Komponente innerhalb einer optischen Kammer, die die Innentemperatur auf einen präzisen Sollwert regelt und hält.

Eine kritische Komponente eines Wafer-Probers, die die elektrische und mechanische Schnittstelle zwischen den Prüfelektroniken des Probers und dem zu testenden Halbleiterwafer bereitstellt.

Schnittstellenkomponente zur Verbindung von Prüfgeräten mit Prüflingsplatinen (DUT) in Burn-in-Testsystemen

Eine strukturierte Anordnung elektrischer Testsonden, die für den gleichzeitigen Kontakt mit mehreren Testpunkten an elektronischen Geräten oder Komponenten ausgelegt ist.

Eine präzise Baugruppe elektrischer Sonden zur Herstellung temporärer elektrischer Verbindungen zu Testpunkten an elektronischen Geräten oder Schaltungen.

Ein geregeltes Heizgehäuse, das den Aushärtungsprozess von LED-Vergussmaterialien durch präzise Temperaturführung beschleunigt.

Schnittstellenkomponente innerhalb eines Festkörperzellenmoduls, die den Wärmeübergang zwischen den Batteriezellen und externen thermischen Managementsystemen ermöglicht.

Ein spezialisiertes Teilsystem innerhalb der Fusionsverarbeitungseinheit, das für die Regelung und Ableitung der bei Hochleistungsrechenoperationen erzeugten Wärme verantwortlich ist.

Ein System zur Regelung und Kontrolle der Temperatur innerhalb eines industriellen Systems, um optimale Betriebsbedingungen sicherzustellen und thermische Schäden zu verhindern.

Eine temperaturgeregelte Plattform in einem Wafer-Prober, die Halbleiterwafer während elektrischer Tests hält und deren Temperatur regelt.

Eine festkörperbasierte aktive Wärmepumpe, die Wärme von einer Seite des Bauteils zur anderen unter Nutzung des Peltier-Effekts überträgt.

Festkörperbauteil, das elektrische Energie in eine Temperaturdifferenz umwandelt (Peltier-Effekt) oder aus einem Temperaturgradienten elektrische Energie erzeugt (Seebeck-Effekt).

Eine geregelte Umgebungskammer, die entwickelt wurde, um Computer-Hauptplatinen während des Burn-In-Tests präzisen Temperaturzyklen auszusetzen.

Präzisions-Dosiergerät zum Auftragen von Wärmeleitmaterial (WLM) auf elektronische Bauteile während der Montage

Ein Subsystem innerhalb eines optischen Spektrometers, das eine präzise Temperaturregelung kritischer Komponenten zur Gewährleistung von Messgenauigkeit und Stabilität aufrechterhält.

Ein Rechenmodell, das die Verteilung der Strahlendosis in Abhängigkeit von der Tiefe in einem Material oder Gewebe vorhersagt.

Eine Multisensor-Baugruppe, die Tiefenstände in industriellen Steuerungssystemen misst und überwacht.

Ein elektronischer Filter, der Signale mit einer Frequenz unterhalb einer ausgewählten Grenzfrequenz passieren lässt und Signale mit Frequenzen oberhalb der Grenzfrequenz dämpft.